一、定義：儀器水平線性是示波屏上時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程之間成正比的程度，即示波屏上多次底波等距離的程度。水平線性對(duì)缺陷定位有較大的影響。
（2）通過[微調(diào)][水平][脈沖位移]等按鈕，使屏上出現(xiàn)5次底波 B1--B5，當(dāng)?shù)撞˙1和B5的幅度分別為50％滿刻度時(shí)，將它們的前沿分別對(duì)準(zhǔn)刻度2.0和10.0。B1和B6的前沿位置在調(diào)整中如相互影響，則應(yīng)反復(fù)進(jìn)行調(diào)整。
例：用IIW或CSK-1A試塊測(cè)儀器的水平線性，現(xiàn)測(cè)得B1對(duì)準(zhǔn)2.0，B5對(duì)準(zhǔn)10.0時(shí)，B2、B3、B4與4.0、6.0、8.0的偏差分別為0.5、0.6、0.8;求其水平誤差為多少？
一、定義：儀器垂直線性是示波屏上波高與探頭接收的信號(hào)幅值之間成正比的程度。它取決于儀器放大器的性能。垂直線性用垂直線性誤差表示。垂直線性影響缺陷的檢出和定量。
（2）將直探頭置于CSK--1A試塊的25mm厚大平底面上，
恒定壓力壓?。?/div>
（3）調(diào)節(jié)儀器使試塊上某次底波位于示波屏中央，并達(dá)到100%幅度，作為“0”dB;
（4）固定[增益]和其他旋鈕，調(diào)衰減器，每次衰減2dB,并記下相應(yīng)的波**填入表中，直到底波消失；
Hi(衰減△idB后波高)
上表中：實(shí)測(cè)相對(duì)波高%=----------------------------×100%
H0(衰減0dB后波高)
理想相對(duì)波高是△i=2、4、6dB……時(shí)的波高比（如△i=6dB時(shí)的理想相對(duì)波高是50.1%）
三、計(jì)算垂直線性誤差
D=（ |d1|+|d2| ）
式中： d1--實(shí)測(cè)值與理想值的*大正偏差
d2--實(shí)測(cè)值與理想值的*大負(fù)偏差
* ZBY230--84規(guī)定：儀器的垂直線性誤差D≤8%
5.2 探頭的驗(yàn)證
5.2.1 試塊
一、試塊的用途
l 測(cè)試或校驗(yàn)儀器和探頭的性能；
l 確定探測(cè)靈敏度和缺陷大小；
l 調(diào)整探測(cè)距離和確定缺陷位置；
l 測(cè)定材料的某些聲學(xué)特性。
二、試塊的分類（主要分二類）
l 標(biāo)準(zhǔn)試塊
l 對(duì)比試塊（參考試塊）
l 其他叫法：校驗(yàn)試塊、靈敏度試塊；平底孔試塊、橫孔試塊、槽口試塊；鍛件試塊、焊縫試塊等。
三、試塊簡(jiǎn)介
1. 荷蘭試塊
l 1955年荷蘭人提出；1958年國際焊接學(xué)會(huì)通過并命名為IIW試塊；ISO組織推薦使用。
l 類似的有：中國CSK-IA、日本STB-A1、英國BS-A、西德DIN54521……
2. IIW2試塊（三角形試塊、牛角試塊）
l 適用于現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)（體積小、輕、方便）；
l 用途較IIW少
3. CSK-IA試塊：中國的改型試塊
三、試塊簡(jiǎn)介
1. 荷蘭試塊
l 1955年荷蘭人提出；1958年國際焊接學(xué)會(huì)通過并命名為IIW試塊；ISO組織推薦使用。
l 類似的有：中國CSK-IA、日本STB-A1、英國BS-A、西德DIN54521……
2. IIW2試塊（三角形試塊、牛角試塊）
l 適用于現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)（體積小、輕、方便）；
l 用途較IIW少
3. CSK-IA試塊：中國的改型試塊
l CSK-IA試塊的主要用途:
① R50、R100圓弧：
- 斜探頭入射點(diǎn)、前沿測(cè)定；
- 掃描線比例校準(zhǔn)；
② 上下表面刻度：斜探頭K值校準(zhǔn)；
③ φ50、φ44、φ40孔：斜探頭分辨率測(cè)定；
④ 89、91、100mm 臺(tái)階：直探頭分辨率測(cè)定；
⑤ φ50孔：盲區(qū)測(cè)定。
4. CS-1和CS-2
l 1986年通過，CS-1全套26塊，CS-2全套66塊；
l 要求：
（1）D/L比不能太小，否則產(chǎn)生側(cè)壁效應(yīng)；
（2）平底孔應(yīng)足以分辨；
（3）材質(zhì)衰減要小。
注：鑄鋼件試塊與此形狀相同、尺寸不同
5. CSK-IIA / CSK-IIIA
6. RB-1、RB-2、RB-3
7. 鋼板試塊
8. 半圓試塊
9. 管子試塊
10. 其它試塊
5.2.2 探頭靈敏度
一、調(diào)節(jié)靈敏度的幾個(gè)旋鈕
l[發(fā)射強(qiáng)度] 調(diào)節(jié)發(fā)射脈沖的輸出幅度，發(fā)射強(qiáng)度大靈敏度高，但分辨率低；
l[增益] 調(diào)節(jié)接收放大器的放大倍數(shù)，增益大靈敏度高；
l[抑制] 限制檢波后信號(hào)的輸出幅度，主要用于抑制雜波、提高信噪比。使用[抑制]會(huì)使儀器的垂直線性變壞，動(dòng)態(tài)范圍變小。 [抑制]增加，靈敏度降低，盡量不要用[抑制]；
l[衰減器] 電路內(nèi)專用器件，用于定量地調(diào)節(jié)示波屏上的波高，它是步進(jìn)旋鈕。分：[粗調(diào)][細(xì)調(diào)]二檔， [粗調(diào)]步長(zhǎng)10-20dB, [細(xì)調(diào)]步長(zhǎng)1-2dB。CTS-6型總衰減量50db;CTS-22型則為80dB;
調(diào)節(jié)靈敏度的幾個(gè)旋鈕
l《ZB Y230--84 A型脈沖反射超聲探傷通用技術(shù)條件》中規(guī)定：總衰減量不小于60dB;衰減誤差：1dB / 12dB.
二、靈敏度和靈敏度余量概念
靈敏度:超聲波在規(guī)定反射體上的回波振幅（即回波高度）即靈敏度。
靈敏度余量：使超聲波在規(guī)定反射體上的回波振幅達(dá)到一定高度（即基準(zhǔn)波高）時(shí)所需的衰減總量稱為靈敏度余量。
三、直探頭 + 儀器的靈敏度余量測(cè)試
l探頭對(duì)準(zhǔn)200 / Φ2平底孔；
l[抑制]：0； [發(fā)射強(qiáng)度] [增益]：*大；
l提起探頭，用[衰減器]將電噪聲電平衰減到10%以下，這時(shí)衰減量為N1dB;
l調(diào)[衰減器]使Φ2孔*高回波達(dá)滿刻度的50%（基準(zhǔn)高），這時(shí)衰減量為N2dB;
l靈敏度余量 N=N1-N2（dB）;
直探頭的靈敏度余量要求≥30dB
四、斜探頭 + 儀器的靈敏度余量測(cè)試
l探頭對(duì)準(zhǔn)IIW試塊R100園弧面；
l[抑制]：0； [發(fā)射強(qiáng)度] [增益]：*大；
l提起探頭，用[衰減器]將電噪聲電平衰減到10%以下，這時(shí)衰減量為N1dB;
l調(diào)[衰減器]使R100回波達(dá)滿刻度的50%（基準(zhǔn)高），這時(shí)衰減量為N2dB;
l靈敏度余量 N=N1-N2（dB）;
斜探頭的靈敏度余量要求≥40dB
五、探頭盲區(qū)測(cè)定
1 概念
l盲區(qū)是指從探測(cè)面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷處的*小距離，即始脈沖寬度覆蓋區(qū)的距離。
l盲區(qū)與近場(chǎng)區(qū)的區(qū)別：盲區(qū)是始脈沖寬度與放大器引起的，而近場(chǎng)區(qū)是波的干涉引起的。盲區(qū)內(nèi)缺陷一概不能發(fā)現(xiàn)，而近場(chǎng)區(qū)內(nèi)缺陷可以發(fā)現(xiàn)但很難定量。
2 測(cè)定方法
方法（1）：
l先將直探頭在靈敏度試塊上用φ1平底孔調(diào)80%基準(zhǔn)高。
l將直探頭放于盲區(qū)試塊上，能獨(dú)立顯示φ1平底孔回波的*小深度為盲區(qū)。
方法（2）：
l用IIW試塊估算
l將直探頭放于IIW上方：能獨(dú)立顯示回波的，盲區(qū)≤5mm。無獨(dú)立回波的，盲區(qū)＞5mm。
l將直探頭放于IIW左側(cè)：能獨(dú)立顯示回波的，盲區(qū)5～10mm。無獨(dú)立回波的，盲區(qū)＞10mm。
5.2.3 探頭分辨率
一、概念：示波屏上區(qū)分相鄰二缺陷的能力，能區(qū)分的相鄰二缺陷的距離愈小，分辨率就愈高。分辨率與儀器和探頭的質(zhì)量有關(guān)。
二、縱波直探頭分辨率測(cè)定
l直探頭放于IIW試塊85、91、100處，[抑制]為0，左右移動(dòng)探頭，使屏上出現(xiàn)A、B、C波；
l若A、B、C不能分開，先將A、B等高，并取a1、b1值
求： a1
X=20 lg---- (dB)
b1
然后用[衰減器]使B、C等高，取相應(yīng)的a2、b2值
求： a2
Y=20 lg---- (dB)
b2
X、Y值愈大分辨率愈高，一般X、Y ≥ 15dB
三、橫波斜探頭分辨率測(cè)定
l如圖,平行移動(dòng)探頭，使A、B等高則分辨率：
h1
X=20lg------- (dB)
h2
l平行移動(dòng)探頭，使B、C等高則分辨率：
h3
Y=20lg------- (dB)
h4
要求：X或Y≥ 6dB
實(shí)測(cè)時(shí)，[衰減器]將h1衰減到h2即為X值，將h3衰減到h4即為Y值。
5.2.4 斜探頭的校準(zhǔn)
一、入射點(diǎn)、前沿測(cè)試
l 如圖，斜探頭入射到R100圓弧上，左右移動(dòng)探頭找到*大反射回波；如果試塊上有圓心刻度，則刻度對(duì)應(yīng)處為入射點(diǎn)；如果試塊上無圓心刻度則用鋼尺量，使鋼尺100處對(duì)準(zhǔn)試塊圓弧端，鋼尺0點(diǎn)即為入射點(diǎn)；使鋼尺0點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)探頭前端點(diǎn)，差值即為前沿。
二、斜探頭K值測(cè)試
l 如圖，斜探頭分別入射到試塊的二個(gè)圓上，左右移動(dòng)探頭找到*大反射回波；探頭入射點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的刻度即K
l 探頭K值的選擇原則:
(1)聲束掃查到整個(gè)焊縫截面;
(2)聲束盡量垂直于主要缺陷;
(3)有足夠的靈敏度和信噪比;
(4)有利于防止出現(xiàn)偽缺陷波。
三、聲束偏轉(zhuǎn)角測(cè)定
l 概念：主聲束中心線與聲軸間的夾角稱為聲軸偏轉(zhuǎn)角。
l 測(cè)定：探頭置于試塊面上，旋轉(zhuǎn)移動(dòng)找到*大回波，測(cè)定探頭中心線與試塊上表面垂線間的夾角。
錄象：入射點(diǎn)、前沿、斜探頭K值測(cè)試
5.3 對(duì)曲面工件的校準(zhǔn) （略）
5.4 距離-波幅曲線及校準(zhǔn)
一、概念：
描述同一反射體在不同聲程時(shí)，其反射回波幅值關(guān)系的曲線稱為距離-波幅曲線。
二、距離-波幅（分貝）曲線的繪制
1.測(cè)探頭入射點(diǎn)、K值。調(diào)掃描速度（通常調(diào)深度1：1）；
2.衰減器值定52dB（設(shè)定），在CSK-IIIA試塊上調(diào)[增益]使10mm深的φ1×6孔的*高回波達(dá)基準(zhǔn)的60%，依次測(cè)20、30…,填入下表，并依次數(shù)據(jù)畫出曲線
三、距離-波幅（面板）曲線的繪制
1.測(cè)探頭入射點(diǎn)、K值。調(diào)掃描速度（通常調(diào)深度1：1）；
2. 在CSK-IIIA試塊上調(diào)[增益]找到10mm深的φ1×6孔的*高回波達(dá)基準(zhǔn)的100%，在面板上標(biāo)記①,記下dB值（例如選定30dB）。
3.固定[增益][衰減器]，分別測(cè)得20、30、40…90處的φ1×6孔的*高回波并標(biāo)注出相應(yīng)的②③…,連接各點(diǎn)便成面板曲線。該曲線為φ1×6缺陷。
4. [衰減器]值調(diào)到30-9=21dB,為評(píng)定線即φ1×6 - 9
5. [衰減器]值調(diào)到30-3=27dB,為定量線即φ1×6 - 3
6. [衰減器]值調(diào)到30+5=35dB,為判廢線即φ1×6+5
四、距離-波幅曲線的校準(zhǔn)
l 掃描量程的復(fù)核
如果距離－－波幅曲線上任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描讀數(shù)的10％，則掃描量程應(yīng)予以修正，并在檢測(cè)記錄中加以標(biāo)明。
l 距離－－波幅曲線的復(fù)核
復(fù)核時(shí)，校核應(yīng)不少于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dＢ，則應(yīng)對(duì)上一次以來所有的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dＢ，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。
5.4 AVG（DGS）曲線
一、概念
表示回波聲程、幅度（dB）和缺陷之間關(guān)系的曲線稱為AVG曲線。可用于鍛件檢測(cè)時(shí)缺陷的面積當(dāng)量計(jì)算。
聲程以直探頭的近場(chǎng)區(qū)為單位，用A表示
缺陷以探頭的直徑為單位，用G表示
幅值以初始波高為單位，用V表示
--缺陷回波幅值 Vf
--大平底回波幅值 Vb
換算關(guān)系為：
二、AVG曲線的類型
（1）通用AVG
按以上計(jì)算公式算得一組數(shù)據(jù)做出的曲線圖稱為通用AVG曲線。
（2）實(shí)用AVG
實(shí)用AVG曲線是在通用AVG曲線的基礎(chǔ)上經(jīng)坐標(biāo)轉(zhuǎn)換后得到的。
實(shí)用AVG曲線的坐標(biāo)均以十進(jìn)制。
三、AVG曲線的應(yīng)用
例：
5.6 耦合介質(zhì)
一、概念
l為了排除探頭與工件表面之間的空氣，在探頭與工件表面之間施加的一層透聲介質(zhì)稱為耦合劑。
l耦合劑的作用在于排除探頭與工件表面之間的空氣，使超聲波能有效地傳入工件達(dá)到探傷的目的。此外耦合劑還有減少摩擦的作用。
二、耦合效果與聲阻抗有關(guān)，聲阻抗大耦合性能好。
三 、耦合介質(zhì)的種類
l甘油聲阻抗高，耦合性能好，常用于一些重要工件的**探傷，但價(jià)格較貴，對(duì)工件有腐蝕作用。
l水玻璃的聲阻抗較高，常用于表面粗糙的工件探傷，但清洗不太方便，且對(duì)工件有腐蝕作用。
l水的來源廣，價(jià)格低，常用于水浸探傷，但易使工件生銹。
l機(jī)油和變壓器油粘度、流動(dòng)性、附著力適當(dāng)，對(duì)工件無腐蝕、價(jià)格也不貴，因此是目前應(yīng)用*廣的耦合劑
l超聲波探傷中常用耦合劑有機(jī)油、變壓器油、甘油、水、水玻璃等。它們的聲阻抗Z 如下：
耦合劑 機(jī)油 水 水玻璃 甘油
Z×106kg/m2·s 1.28 1.5 2.17 2.43
l 此外，近年來化學(xué)漿糊也常用來作耦合劑，耦合效果比較好。
l 影響耦合的主要因素有：耦合層的厚度，耦合劑的聲阻抗，工件表面粗糙度和工件形狀。
7. 法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)條件和規(guī)程
7.1 與超聲檢測(cè)特別有關(guān)的法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)條件
（1）GB/T 11345-89 鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果的分級(jí)
（2）JB4730-94 壓力容器無損檢測(cè)（將修訂為鍋爐、容器和管道標(biāo)準(zhǔn)）
l壓力容器原材料和另部件的超聲檢測(cè)，共有六個(gè)標(biāo)準(zhǔn)：鋼板、鍛件、復(fù)合鋼板、高壓無縫鋼管、高壓螺栓、奧氏體鋼鍛件
l壓力容器焊縫的超聲檢測(cè)，共有三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)：
鋼焊縫、不銹鋼堆焊層焊縫、鋁焊縫
（3）GB/T 15830-95 鋼制管道對(duì)接環(huán)焊縫超聲波探傷方法和檢驗(yàn)結(jié)果的分級(jí)
（4）GB/T6402-1991 鋼鍛件超聲波檢驗(yàn)方法
與超聲檢測(cè)特別有關(guān)的法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)條件
（5）ZBJ 04 001 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法
（6）ZBY 230 A型脈沖反射式超聲
探傷儀通用技術(shù)條件
（7）ZBY 231 超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法
（8）ZBY 232 超聲探傷用1#標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件
7.2 缺陷評(píng)定的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
（1）焊縫：JB 4730-94 標(biāo)準(zhǔn)P45：9.1.6---9.1.8.4
“ 9·1·6 缺陷定量檢測(cè)
9·1·6·1 靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度。
9·1·6·2 對(duì)所有反射波幅超過定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置、*大反射波幅和缺陷當(dāng)量。
9·1·6·3 缺陷定量
應(yīng)根據(jù)缺陷*大反射波幅確定缺陷當(dāng)量直徑或缺陷指示長(zhǎng)度。
a· 缺陷當(dāng)量直徑，用當(dāng)量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢測(cè)，可采用公式計(jì)算，距離－－波幅曲線和試塊對(duì)比來確定缺陷當(dāng)量尺寸。
b·缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定采用以下：
（1）當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)，且位于II 區(qū)時(shí)，用6dB法測(cè)其長(zhǎng)度。
（2）當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)，且位于II 區(qū)時(shí)，應(yīng)以端點(diǎn)6dB法測(cè)其長(zhǎng)度。
（3）當(dāng)缺陷反射波峰位于 I 區(qū)，如認(rèn)為有必要記錄時(shí)，將探頭左右移動(dòng)，使波幅降到評(píng)定線，以此測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度。
9·1·7缺陷評(píng)定
9·1·7·1 超過評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等 危害性缺陷特征，如有懷疑時(shí)，應(yīng)采取改變探頭K值 、增加檢測(cè)面、觀察動(dòng)態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征判定，如對(duì)波型不能判斷時(shí)，應(yīng)輔以其它檢測(cè)方法作綜合判定。
9·1·7·2 缺陷指示長(zhǎng)度小于10mm時(shí)按5mm計(jì)。
9·1·7·3 相鄰兩 缺陷在一直線上，其間距小于其中較小缺陷長(zhǎng)度時(shí)，應(yīng)作為一條缺陷處理，以兩 缺陷長(zhǎng)度之和作為其指示長(zhǎng)度（不考慮間距）。
9·1·8 缺陷等級(jí)評(píng)定
9·1·8·1不容許存在下列缺陷：
a· 反射波幅位于判廢線及III 區(qū)的缺陷；
b· 檢測(cè)人員判定為裂紋等危害性的缺陷。
9·1·8·2 *大反射波幅位于II 區(qū)的缺陷，根據(jù)其缺陷指示長(zhǎng)度按表9－6的規(guī)定予以評(píng)級(jí)。
9·1·8·3 *大反射波幅低于定量線的非裂紋類缺陷，均評(píng)為 Ⅰ 級(jí)。
9·1·8·4 不合格的缺陷應(yīng)予以返修。返修部位及熱影響區(qū)仍按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)和等級(jí)評(píng)定。
表9--6見書本
缺陷評(píng)定舉例：
例1 焊縫厚度T=40mm，在500mm長(zhǎng)的焊縫內(nèi)發(fā)現(xiàn)位于Ⅱ區(qū)的缺陷，其指示長(zhǎng)度為14mm 一個(gè)，7mm 一個(gè)，3mm 一個(gè)，缺陷間距如圖所示。試評(píng)定該焊縫符合JB4730-94標(biāo)準(zhǔn)幾級(jí)？
解：根據(jù)JB4730-94標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：該缺陷在Ⅱ區(qū)，需要按指示長(zhǎng)度定級(jí)。
先按Ⅰ級(jí)判定：
∵ 1/3T=13.3 而單個(gè)缺陷14＞13.3 ∴不符合Ⅰ級(jí)；
按Ⅱ級(jí)判定：
∵ 2/3T=26.6 而單個(gè)缺陷14＜26.6 ∴單個(gè)缺陷符合 Ⅱ級(jí)；再看累積指示長(zhǎng)度總和
∵ Ⅱ級(jí)焊縫在4.5T焊縫長(zhǎng)度范圍內(nèi)，多個(gè)缺陷的累積指示長(zhǎng)度總和L不應(yīng)超過T，按照“缺陷指示長(zhǎng)度小于10mm，按5mm計(jì)”的規(guī)定，指示長(zhǎng)度總和應(yīng)為：
L=14+5+5=24mm， 24mm＜40mm(T) 符合Ⅱ級(jí)規(guī)定。
答:該缺陷符合標(biāo)準(zhǔn)Ⅱ級(jí)要求。
例2 焊縫厚度T=100mm，在1000mm焊縫內(nèi)發(fā)現(xiàn)波幅為
φ1×6 + 2dB 的缺陷三個(gè)，其指示長(zhǎng)度14mm、7mm、3mm，缺陷之間的間距如圖所示。試評(píng)定該焊縫符合JB4730-94標(biāo)準(zhǔn)幾級(jí)？
解：根據(jù)JB4730-94標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：φ1×6 + 2dB該缺陷在Ⅱ區(qū)，需要按指示長(zhǎng)度定級(jí)。
先按Ⅰ級(jí)判定：
∵ 1/3T=33.3 而14與7之間的間距4小于7 ∴ 單個(gè)缺陷為19（14+5）＜33.3 符合Ⅰ級(jí)；
單個(gè)缺陷符合Ⅰ級(jí)；再看累積指示長(zhǎng)度總和
∵ Ⅰ 級(jí)焊縫在9T焊縫長(zhǎng)度范圍內(nèi)，多個(gè)缺陷的累積指示長(zhǎng)度總和L不應(yīng)超過T，
按照“缺陷指示長(zhǎng)度小于10mm，按5mm計(jì)”的規(guī)定，指示長(zhǎng)度總和應(yīng)為：
L=19 + 5 = 24mm， 24mm＜100mm (T) 符合Ⅰ級(jí)規(guī)定。
l 答:該缺陷符合標(biāo)準(zhǔn)Ⅰ級(jí)要求。
（2）鍛件：JB 4730-94 標(biāo)準(zhǔn)P28：8.2.7
GB/T6402-1991: 6
（3）鑄件：GB 7233-87 鑄鋼件超聲探傷及質(zhì)量評(píng)級(jí)方法
標(biāo)準(zhǔn)匯編（I） P151
JB 5439-91 壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件的超聲波探傷
標(biāo)準(zhǔn)匯編（II） P112
7.3 檢測(cè)規(guī)程
7.3.1 檢測(cè)規(guī)程制定和執(zhí)行程序
① 無損檢測(cè)工程師和無損檢測(cè) III 級(jí)人員具有制定檢測(cè)規(guī) 程的資格；
② 制定-審核-批準(zhǔn)-使用 修定-審核-批準(zhǔn)-使用
7.3.2 檢測(cè)規(guī)程類型
–被檢件相關(guān)參數(shù)
–檢測(cè)與驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
–人員資格
–設(shè)備與器材（儀器型號(hào)、探頭、耦合劑等）
–方法與技術(shù)（采用、掃查方式）
–其他事項(xiàng)
7.3.3 工藝卡
①專用工藝規(guī)程
針對(duì)某一具體檢測(cè)對(duì)象制定的工藝程序
實(shí)例 ②工藝卡
一、工藝卡的生成
表格形式集中顯示專用工藝規(guī)程中的工件參數(shù)、工藝參數(shù)，驗(yàn)收依據(jù)等數(shù)據(jù)，是操作者的工作依據(jù)。
二、工藝卡的執(zhí)行和修訂
8.結(jié)果的記錄和評(píng)定
8.1 記錄：記錄實(shí)際操作的工藝參數(shù)
表格的填寫 8.2 評(píng)定：
l 工藝卡、檢測(cè)記錄、檢測(cè)報(bào)告是體現(xiàn)無損檢測(cè)工藝控制和檢測(cè)質(zhì)量的文件。
9 特殊技術(shù)
9.1 自動(dòng)和半自動(dòng)技術(shù)
9.2 數(shù)字技術(shù)
一、模擬信號(hào)與數(shù)字信號(hào)
l 模擬信號(hào)：振幅隨時(shí)間連續(xù)變化的脈沖信號(hào)稱為模擬信號(hào)
l 數(shù)字信號(hào)：按一定時(shí)間間隔記錄脈沖幅值的一組數(shù)據(jù)稱為數(shù)字信號(hào)
l 模擬信號(hào)與數(shù)字信號(hào)之間的轉(zhuǎn)換---A/D轉(zhuǎn)換
二、數(shù)字（智能）超聲儀
lA型儀的特點(diǎn)
顯示：模擬量（連續(xù)波）；定位：線性對(duì)比；定量：當(dāng)量法。
優(yōu)點(diǎn)：操作方便；成本低；實(shí)時(shí)性強(qiáng)。
局限：檢測(cè)結(jié)果不能保存；定位、定量誤差較大。
l數(shù)字儀的特點(diǎn)和功能
顯示：數(shù)字量（連續(xù)波）；定位：數(shù)學(xué)計(jì)算；定量：數(shù)學(xué)計(jì)算。
優(yōu)點(diǎn)：檢測(cè)結(jié)果能保存；定位、定量誤差較小。
局限：操作復(fù)雜；成本較高；
l超聲信號(hào)數(shù)字處理技術(shù)的開發(fā)與應(yīng)用
9.3 A、B、C掃描和顯示技術(shù)
概念：
1. 掃描:探頭在工件表面的移動(dòng)稱為掃描。掃描過程中完成了超聲檢測(cè)的三個(gè)步驟：壓電晶片在電信號(hào)激勵(lì)下發(fā)射超聲波；超聲波進(jìn)入工件并接觸到反射體（如缺陷）；從反射體產(chǎn)生的回波被晶片吸收并轉(zhuǎn)換為電信號(hào)?；夭ㄐ盘?hào)的顯示有三種方法，即A顯示、B顯示、C顯示。
2. A顯示：回波信號(hào)以波形方式的顯示稱為A顯示。
3. B顯示：回波信號(hào)通過計(jì)算機(jī)處理后顯示工件垂直剖面的顯示稱為B顯示，實(shí)現(xiàn)這種顯示的掃描稱為B掃描。
4. C顯示：回波信號(hào)通過計(jì)算機(jī)處理后顯示工件水平剖面的顯示稱為C顯示，實(shí)現(xiàn)這種顯示的掃描稱為C掃描。