**無損檢測技術(shù)資格人員
超聲檢測培訓(xùn)復(fù)習(xí)題匯編
夏紀(jì)真
目 錄
是非判斷題
問答題
選擇題
計(jì)算題
一、是非判斷題（在每題后面括號內(nèi)打"X"號表示"錯(cuò)誤"，畫"○"表示正確）
1.超聲波檢測中應(yīng)用的所謂板波,實(shí)際是在薄板中產(chǎn)生的一種表面波(X)
2.超聲波檢測中應(yīng)用的所謂板波,實(shí)際是在中厚板或厚板中產(chǎn)生的一種特殊波型(X)
3.超聲波檢測中應(yīng)用的所謂板波,只能適用于厚度與波長相當(dāng)?shù)谋“?0)
4.超聲波檢測中應(yīng)用的所謂板波,實(shí)際是在厚板或中厚板中產(chǎn)生的一種表面波(X)
5.超聲波在某一給定的無限大介質(zhì)中傳播時(shí),質(zhì)點(diǎn)振動速度就是聲速(X)
6.超聲波在某一給定的無限大介質(zhì)中傳播時(shí),質(zhì)點(diǎn)振動速度與聲速不是一回事(0)
7.超聲波在某一給定的無限大介質(zhì)中傳播時(shí),質(zhì)點(diǎn)振動速度與聲速實(shí)際上是一回事(X)
8.兩束頻率不同的聲波在同一介質(zhì)中傳播時(shí),如果相遇可產(chǎn)生干涉現(xiàn)象(0)
9.兩束頻率相同但行進(jìn)方向相反的聲波疊加可形成駐波(0)
10.在同一固體介質(zhì)中,縱波,橫波,瑞利波,蘭姆波的傳播速度均為常數(shù)(X)
11.由于在遠(yuǎn)場區(qū)超聲波束會擴(kuò)散,所以探傷應(yīng)盡可能在近場區(qū)進(jìn)行(X)
12.為了在試件中得到純橫波,斜探頭透聲斜楔材料的縱波速度應(yīng)小于被檢試件中的縱波速度(0)
13.為了在試件中得到純橫波,斜探頭透聲斜楔材料的縱波速度應(yīng)大于被檢試件中的縱波速度(X)
14.超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),聲能的傳播是由各質(zhì)點(diǎn)的位移連續(xù)變化來傳遞的(0)
15.如材質(zhì)相同,細(xì)鋼棒(直徑＜λ＝與鋼鍛件中的聲速相同(X)
16.超聲波垂直入射至鋼/空氣界面時(shí),反射波和入射波可在鋼中形成駐波(0)
17.只有當(dāng)**介質(zhì)為固體介質(zhì)時(shí),才會有第三臨界角(0)
18.超聲波從液體進(jìn)入固體時(shí)也會出現(xiàn)第三臨界角(X)
19.超聲波從固體進(jìn)入液體時(shí)有可能會出現(xiàn)第三臨界角(0)
20..當(dāng)試件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時(shí),將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化(0)
21.焊縫斜角探傷時(shí)常采用液態(tài)耦合劑,說明橫波可以通過液態(tài)介質(zhì)薄層(X)
22.用接觸法在試件中產(chǎn)生橫波的方法,唯有利用透聲斜楔使縱波傾斜入射到界面上(X)
23.在異質(zhì)界面上,當(dāng)橫波折射角等于90°時(shí)的縱波入射角稱為**臨界角(X)
24.在異質(zhì)界面上,當(dāng)縱波折射角等于90°時(shí)的縱波入射角稱為**臨界角(0)
25.在異質(zhì)界面上,當(dāng)橫波折射角等于90°時(shí)的縱波入射角稱為**臨界角(0)
26.目前應(yīng)用于超聲波檢測的超聲波波型**于縱波和橫波(X)
27.可以認(rèn)為,目前用超聲波法確定內(nèi)部缺陷真實(shí)尺寸的問題已經(jīng)解決(X)
28.超聲波檢測法不能用于巖石材料(X)
29.目前*常用的超聲波測厚儀利用的是連續(xù)波共振原理(X)
30.目前常用的超聲波測厚儀利用的是超聲連續(xù)波穿透法測厚(X)
31.目前一般的小型數(shù)字式超聲波測厚儀其工作原理基于脈沖回波法(0)
32.目前一般的小型數(shù)字式超聲波測厚儀其工作原理基于諧振法(X)
33.用共振式測厚儀測定聲速的公式是：C=2fn(d/n)，式中fn為共振頻率，n為共振次數(shù)，d為試塊厚度(0)
34.機(jī)械振動在彈性介質(zhì)中的傳播過程稱為機(jī)械波，在振動過程中能量和質(zhì)量交替向前傳播(X)
35.形成球面波或柱面波的差別主要決定于波源的形狀(0)
36.根據(jù)惠更斯定理，可以描繪出超聲波探頭發(fā)出的超聲波在介質(zhì)中的傳播方向(0)
37.方形振子的遠(yuǎn)場計(jì)算公式是：N方=1.2D2/4λ(X)
38.聚焦探頭的幾何焦距f相對于同一晶片的非聚焦探頭來說，f必定小于近場長度N(0)
39.聚焦探頭的幾何焦距f相對于同一晶片的非聚焦探頭來說，f必定大于近場長度N(X)
40.聚焦探頭的幾何焦距f相對于同一晶片的非聚焦探頭來說，f可以大于也可以小于近場長度N(X)
41.在鋼中測定為某一折射角的斜探頭，在鋁中測定時(shí)其折射角變大(X)
42.在鋼中測定為某一折射角的斜探頭，在鋁中測定時(shí)其折射角變小(0)
43.不銹鋼堆焊層比基材鋼的聲阻抗大2%，在兩者界面上的聲壓反射率為0.5%(X)
44.50°橫波入射到端角時(shí)超聲波能量反射*低，故應(yīng)避免使用(X)
45.60°橫波入射到端角時(shí)超聲波能量反射*低，故應(yīng)避免使用(0)
46.超聲波探傷儀的脈沖重復(fù)頻率越高,探傷頻率也越高(X)
47.超聲波探傷儀的脈沖重復(fù)頻率與探傷頻率不是一回事(0)
48.超聲波探傷儀的脈沖重復(fù)頻率與探傷頻率是一回事(X)
49.確定探頭掃查速度時(shí)不必考慮儀器的脈沖重復(fù)頻率(X)
50.確定探頭掃查速度時(shí)需要考慮儀器的脈沖重復(fù)頻率(0)
51.任何探頭電纜,只要是高頻的,在任何情況下均可互換使用(X)
52.超聲波檢測中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中脈沖重復(fù)頻率選用過高(0)
53.超聲波檢測中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中脈沖重復(fù)頻率選用過低(X)
54.超聲波檢測中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減大的材料中脈沖重復(fù)頻率選用過高(X)
55.超聲波檢測中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減大的材料中脈沖重復(fù)頻率選用過高(X)
56.多通道探傷儀是由多個(gè)或多對探頭同時(shí)工作的探傷儀(X)
57.數(shù)字化超聲波探傷儀和模擬式超聲波探傷儀是一回事(X)
58.超聲波探傷儀中飽和放大器的輸出電壓與輸入電壓之間呈線性關(guān)系(X)
59.通用超聲波探傷儀探頭內(nèi)裝的是屬于γ系列換能器(0)
60.現(xiàn)代超聲波儀器中的底波衰減旋鈕可用來監(jiān)視工件底波變化(0)
61.B型顯示的超聲波儀器可測定缺陷至工件表面的距離(0)
62.頻帶越寬，脈沖越窄(0)
63.頻帶越窄，脈沖越寬(0)
64.超聲波檢測中，1.25MHz探頭的分辨率比5MHz探頭的分辨率差(0)
65.超聲波檢測中，1.25MHz探頭的分辨率比5MHz探頭的分辨率差(X)
66.超聲波檢測中，5MHz窄脈沖探頭的分辨率比5MHz普通探頭的分辨率高(0)
67.超聲波檢測中，10MHz探頭的分辨率比5MHz探頭的分辨率高(0)
68.當(dāng)超聲波聲程大于3N時(shí)，如聲程相同，若長橫孔直徑相差一倍時(shí)，則波高相差6dB(X)
69.當(dāng)超聲波聲程大于3N時(shí)，如聲程相同，若平底孔面積相差一倍，則波高相差12dB(X)
70.超聲波檢測儀是利用壓電效應(yīng)發(fā)射超聲波的(X)
71.同一探頭在鋼中的近場N要比在水中的近場長(X)
72.相同直徑的探頭其工作頻率高的指向性好(0)
73.質(zhì)點(diǎn)振動三次所需要的時(shí)間，可以使超聲波在介質(zhì)中傳播三個(gè)波長的距離(0)
74.超聲波通過介質(zhì)時(shí)，施加于介質(zhì)表面的壓強(qiáng)稱為聲壓，它與聲阻抗成正比，與質(zhì)點(diǎn)振速成反比(X)
75.一般的超聲波檢測儀在有抑制作用的情況下其垂直線性必然變壞(0)
76.垂直通過單位面積的聲能稱為聲強(qiáng)，它具有"功"的概念(X)
77.脈沖寬度大的儀器其頻帶寬度也大(X)
71.鋼板超聲波檢測時(shí),若無底波反射,則說明板中并無缺陷(X)
72.鋼板超聲波檢測時(shí),只要根據(jù)有無缺陷波反射,即可判斷板中有無缺陷(X)
73.用板波法探測厚度5mm以下薄鋼板時(shí),不僅能檢出內(nèi)部缺陷,同時(shí)能檢出表面缺陷(0)
74.用板波法探測厚度5mm以下薄鋼板時(shí),僅能檢出表面缺陷，而內(nèi)部缺陷須用其他方法檢測(X)
75.鋼管水浸聚焦法探傷時(shí),不宜采用線聚焦探頭探測較短缺陷(0)
76.鋼管水浸聚焦法探傷時(shí),不宜采用線聚焦探頭探測較長缺陷(X)
77.鋼管水浸聚焦法探傷時(shí),為了提高檢測效率，采用線聚焦探頭就能保證檢出所有缺陷(X)
78.管子壁厚t與外徑D之比(t/D)＞0.2,在用純橫波檢查縱向缺陷時(shí),中心聲束會達(dá)不到管子的內(nèi)壁(0)
79.管子壁厚t與外徑D之比(t/D)＜0.2,在用純橫波檢查縱向缺陷時(shí),中心聲束會達(dá)不到管子的內(nèi)壁(X)
80.在鍛件的超聲波檢測中,有關(guān)缺陷的定性定量問題已經(jīng)解決(X)
81.在超聲波檢測技術(shù)中,有關(guān)缺陷的定性定量問題已經(jīng)解決(X)
82.調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的底波法,其含義是鍛件掃查過程中依據(jù)底波變化情況評定鍛件質(zhì)量等級(X)
83.探測根部未焊透缺陷時(shí),一般不宜選用折射角為60°的斜探頭(0)
84.探測根部未焊透缺陷時(shí),一般不宜選用折射角為45°的斜探頭(X)
85.探測根部未焊透缺陷時(shí),一般不宜選用折射角為70°的斜探頭(X)
86.用平探頭對曲面工件接觸法探傷時(shí),探傷面曲率越大,耦合效果越好(X)
87.用平探頭對曲面工件接觸法探傷時(shí),探傷面曲率越大,耦合效果越差(0)
88.用平探頭對曲面工件接觸法探傷時(shí),探傷面曲率半徑越大,耦合效果越好(0)
89.用平探頭對曲面工件接觸法探傷時(shí),探傷面曲率半徑越大,耦合效果越差(X)
90.對于表面下的缺陷,在合適條件下也可以考慮采用爬波進(jìn)行檢測(0)
91.在平整光滑表面，為獲得*佳的聲學(xué)耦合，施加于塑料保護(hù)膜探頭的壓力要比鋼保護(hù)膜探頭大(X)
92.對于粗糙表面，適宜選用塑料保護(hù)膜探頭(0)
93.鑄鋼件毛坯接觸法探傷主要使用的探頭是雙晶縱波探頭和塑料保護(hù)膜直探頭(0)
94.鑄鋼件毛坯接觸法探傷主要使用的探頭是高頻直探頭或斜探頭(X)
95.草狀波在探測軸類鍛件中出現(xiàn)的原因主要是鋼材中晶粒粗大造成的(0)
96.圓柱形鍛件可用底波作基準(zhǔn)調(diào)節(jié)靈敏度的條件是：d≥3.7N（N-近場長度，d-工件直徑）(0)
97.使用聲學(xué)聚焦透鏡能提高靈敏度和橫向分辨率，但是減小了檢測范圍(0)
98.窄脈沖的超聲波其穿透能力較小(0)
99.窄脈沖的超聲波其穿透能力較大(X)
100.窄脈沖的超聲波其分辨率較低(0)
101.窄脈沖的超聲波其分辨率較高(0)
102.雙晶縱波探頭使用階梯形試塊調(diào)整儀器掃描線，但在測厚時(shí)必須在和被測厚度相同的階梯上校正(0)
103.超聲波檢測大鍛件時(shí)使用的重復(fù)頻率比管子自動探傷時(shí)更高(X)
104.超聲波儀器脈沖寬度增加時(shí)會增加工件側(cè)面干擾(0)
105.超聲波儀器的C型顯示能展示工件中缺陷的長度和寬度，但不能展示其深度(0)
106.超聲波儀器的B型顯示能展示工件中缺陷沿探測方向截面的寬度和深度，但不能展示其探測方向上的長度(0)
107.超聲波儀器的C型顯示屬于三維立體顯示(X)
108.超聲波儀器的B型顯示屬于二維顯示(0)
109.在距離-振幅曲線上，橫孔表現(xiàn)較平坦，平底孔較陡，球孔更陡(X)
110.軸類零件作超聲波檢測時(shí)，若遇到有游動訊號出現(xiàn)，則應(yīng)認(rèn)為軸的內(nèi)部有危險(xiǎn)性缺陷存在(X)
111.在接觸法超聲波檢測中，應(yīng)對工件檢測面的表面光潔度提出要求，表面光潔度以盡量高為佳(0)
112.超聲波檢測儀器中的TCG裝置（或DAC裝置）是專門為了距離補(bǔ)償而設(shè)置的(0)
113.目前較少采用橫波直探頭的原因是橫波有探頭傳入工件困難(0)
114.按照經(jīng)典理論，超聲波檢測方法所能檢測的*小缺陷尺寸大約是二分之一波長(0)
115.對于一個(gè)尺寸小于0.8(λS)1/2（S為聲程）的缺陷，其波高F與底波高度B的比值（F/B）隨探頭尺寸的增大而增大(X)
116.面狀缺陷在焊縫超聲波檢測中應(yīng)評為不合格(0)
117.傳播于工件表面，質(zhì)點(diǎn)振動方向與工件表面平行的橫波稱為"樂甫波"(0)
118.在超聲波自動化檢測中，必須考慮儀器重復(fù)頻率對檢驗(yàn)速度的影響(0)
119.當(dāng)被檢材料的晶粒尺寸大于1/10波長時(shí)，超聲波的散射會影響試驗(yàn)結(jié)果(0)
120.在超聲波檢測中，如果使用的重復(fù)頻率過高，在探測粗晶材料時(shí)會出現(xiàn)林狀回波(X)
121.可以用電磁-聲探傷法實(shí)現(xiàn)非接觸式超聲波檢測，從而進(jìn)一步提高超聲波檢測自動化程度(0)
122.采用縱波法檢查鋼板時(shí)，探頭掃查移動方向以平行于鋼板壓延方向較好(X)
123.用直探頭探測同一缺陷，探頭直徑增大時(shí)，缺陷波增高，底波高度也會增高(0)
124.用直探頭在軸類鍛件的圓周面上進(jìn)行周向掃查時(shí)，只有徑向缺陷才會產(chǎn)生游動信號(X)
125.由于鑄件中的缺陷主要產(chǎn)生在澆冒口部位，因此在鑄件的超聲波檢測中，檢測的重點(diǎn)應(yīng)放在澆冒口部位，其它部位可以不檢查或做一般性檢查(X)
126.管子超聲波探傷必須采用水浸聚焦方法是因?yàn)楣茏忧蕦Τ暡ㄓ猩⑸渥饔?X)
127.焊縫中的裂紋都是在焊液冷卻凝固過程中產(chǎn)生的，焊接終了之后就不會再發(fā)生，因此在焊縫冷卻到室溫時(shí)即可進(jìn)行超聲波檢測(X)
128.即使使用帶有缺陷自動報(bào)警裝置和缺陷自動記錄裝置的超聲波檢測儀，在檢測過程中探頭移動速度也必須限制在一定范圍內(nèi)，不宜太快(0)
129.厚焊縫采用串列法掃查時(shí)，如焊縫余高磨平，則不存在死區(qū)。(X)
130.較薄鋼板采用底波多次法探傷時(shí)，如出現(xiàn)"疊加效應(yīng)"，說明鋼板中缺陷尺寸一定很大。(X)
131.當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時(shí)，由于缺陷多次反射波互相干涉容易形成"疊加效應(yīng)"。(X)
132.采用雙探頭串列法掃查焊縫時(shí)，位于焊縫深度方向任何部位的缺陷，其反射波均出現(xiàn)在熒光屏上同一位置。(0)
133.焊縫斜角探傷時(shí)，如采用直射法，也應(yīng)該考慮結(jié)構(gòu)反射、變型波等干擾回波的影響(0)
134.由于探頭折射角較大，在焊縫一側(cè)用全跨距探傷，即可掃查到整個(gè)焊縫截面，因此沒有必要從焊縫另一側(cè)探傷(X)
135.用雙晶直探頭對平面工件探傷時(shí)，*好的操作方法是使隔聲層垂直于探頭掃查方向(0)
136.用雙晶直探頭對平面工件探傷時(shí)，*好的操作方法是使隔聲層垂直于探頭掃查方向(X)
137.用雙晶直探頭對平面工件探傷時(shí)，*好的操作方法是使隔聲層與探頭掃查方向呈45°夾角(X)
138.與表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超聲波檢測時(shí)，通常使用頻率較低的探頭和粘度較高的耦合劑(0)
139.與表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超聲波檢測時(shí)，通常使用頻率較高的探頭和粘度較低的耦合劑(X)
140.焊縫的超聲波檢測一般應(yīng)在外觀檢查合格之后進(jìn)行(0)
141.焊縫的超聲波檢測一般應(yīng)在焊縫冷卻至室溫之后即可進(jìn)行(X)
142.電渣焊的焊縫超聲波檢測一般應(yīng)在正火處理之后進(jìn)行(0)
143.電渣焊的焊縫的超聲波檢測在焊縫冷卻至室溫之后即可進(jìn)行(X)
144.容易產(chǎn)生延遲裂紋的焊縫應(yīng)在至少焊后24小時(shí)之后進(jìn)行超聲波檢測(0)
145.選擇焊縫探傷中的斜探頭折射角時(shí)，為使整個(gè)焊縫截面不漏檢，選用的折射角β必須滿足tgβ≤(D+L)/T（式中：D-焊縫寬度；L-探頭前沿長度；T-鋼板厚度）(X)
146.選擇焊縫探傷中的斜探頭折射角時(shí)，為使整個(gè)焊縫截面不漏檢，選用的折射角β必須滿足tgβ≥(D+L)/T（式中：D-焊縫寬度；L-探頭前沿長度；T-鋼板厚度）(0)
147.在焊縫的超聲波檢測中，為了防止遇到垂直于底面的缺陷時(shí)回波聲壓太低，一般都盡可能避免使用折射角為30°的斜探頭(X)
148.在焊縫的超聲波檢測中，為了防止遇到垂直于底面的缺陷時(shí)回波聲壓太低，一般都盡可能避免使用折射角為45°的斜探頭(X)
149.在焊縫的超聲波檢測中，為了防止遇到垂直于底面的缺陷時(shí)回波聲壓太低，一般都盡可能避免使用折射角為60°的斜探頭(0)
150.在焊縫的超聲波檢測中，為了防止遇到垂直于底面的缺陷時(shí)回波聲壓太低，一般都盡可能避免使用折射角為70°的斜探頭(X)
151.使用窄脈沖寬頻帶探頭可以提高近表面缺陷的探測能力(0)
152.使用TR探頭可以提高近表面缺陷的探測能力(0)
153.提高探頭頻率，減小晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探測能力(0)
154.使用窄脈沖寬頻帶探頭不可以提高近表面缺陷的探測能力(X)
155.使用TR探頭不可以提高近表面缺陷的探測能力(X)
156.提高探頭頻率，減小晶片尺寸不可以提高近表面缺陷的探測能力(X)
157.提高探頭頻率，增大晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探測能力(X)
158.不同類型的缺陷對其回波高度的大小有很重要的影響(0)
159.缺陷中的內(nèi)涵物對其回波高度大小有很重要的影響(0)
160.缺陷的回波高度主要取決于其大小、形狀和取向，而在缺陷中的內(nèi)涵物對其回波高度大小沒有影響(X)
161.用AVG方法進(jìn)行定量評定時(shí)，不考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果比考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果偏大(0)
162.用AVG方法進(jìn)行定量評定時(shí)，不考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果比考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果偏小(X)
163.用AVG方法進(jìn)行定量評定時(shí)，不考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果與考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果相同(X)
164.用AVG方法進(jìn)行定量評定時(shí)，不考慮材質(zhì)衰減和考慮材質(zhì)衰減的兩種缺陷定量結(jié)果都在允許的誤差范圍以內(nèi)(X)
165.在中薄板的直探頭多次反射法探傷中，由于多次反射之間的疊加作用，致使小缺陷多次反射回波高度常常是**次要比**次高(0)
166.在中薄板的直探頭多次反射法探傷中，由于多次反射之間的疊加作用，致使小缺陷多次反射回波高度常常是**次要比**次低(0)
167.管子的超聲波檢測只能采用水浸聚焦探傷方法，不宜采用斜探頭接觸法(X)
168.在鍛件的超聲波檢測中，選擇探測面的一個(gè)很重要的原則是：應(yīng)盡可能使透入鍛件的超聲波傳播方向與晶粒的變形方向相垂直(0)
169.在鍛件的超聲波檢測中，選擇探測面的一個(gè)很重要的原則是：應(yīng)盡可能使透入鍛件的超聲波傳播方向與晶粒的變形方向相平行(X)
170.在鍛件的超聲波檢測中，選擇探測面的一個(gè)很重要的原則是：應(yīng)從互相垂直的兩個(gè)方向上作****的掃查(0)
171.超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，聲能的傳播是由各質(zhì)點(diǎn)的位移邊連續(xù)變化來傳遞的。(0)
172.聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學(xué)特性的重要參數(shù)，溫度變化對材料的聲阻抗無任何影響。(X)
173.壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)（d33）大，則說明該晶片接收性能好(X)
174.壓電晶片的壓電電壓常數(shù)（g33）大，則說明該晶片接收性能好(0)
175.探頭中壓電晶片背面加吸收塊石為了提高機(jī)械品質(zhì)因素Qm，減少機(jī)械損耗(X)
176.表面波在介質(zhì)表面?zhèn)鞑r(shí)，介質(zhì)表面質(zhì)點(diǎn)作橢圓運(yùn)動，這種運(yùn)動可視為縱向振動與橫向振動的合成（0）
177.在板厚與波長相當(dāng)?shù)膹椥员“鍌鞑サ牟ǚQ為板波。根據(jù)質(zhì)點(diǎn)振動方向的不同可將這種波分為SH波和蘭姆波（0）
178.對稱型蘭姆波的特點(diǎn)是薄板中心質(zhì)點(diǎn)作縱向振動，上下表面質(zhì)點(diǎn)作橢圓運(yùn)動，振動相位相反并對稱于中心（0）
179.非對稱型蘭姆波的特點(diǎn)是薄板中心質(zhì)點(diǎn)作橫向振動，上下表面質(zhì)點(diǎn)作橢圓運(yùn)動，振動相位相同，不對稱（0）
180.板波的波速是隨頻率不同而不同的，具有頻散性質(zhì)（0）
181.板波的波速與縱波、橫波一樣，在特定材料中有固定的波速（X）
182.板波的波速不隨頻率變化（X）
183.在一定材料中的縱波波速不隨頻率變化（0）
184.在一定材料中的縱波波速會隨頻率不同而變化（X）
185.超聲波在介質(zhì)中的傳播過程，是能量傳播過程，沒有物質(zhì)的遷移（0）
186.超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，其波長與聲速成正比，與頻率成反比（0）
187.表面波只能在固體表面?zhèn)鞑?，表面波的能量隨傳播深度增加而迅速減弱（0）
188.橫波是波的傳播方向與質(zhì)點(diǎn)振動方向垂直的一種波動類型，只能在固體介質(zhì)中傳播（0）
189.波的傳播方向稱為波線，它恒垂直于波陣面（0）
190.波陣面為同心球面的波稱為球面波，球面波各質(zhì)點(diǎn)的振幅與距離成反比（0）
191.超聲波探頭中的波源近似活塞振動，在各向同性的介質(zhì)中輻射的波稱為活塞波。當(dāng)距探頭的距離足夠遠(yuǎn)時(shí)，它類似于球面波（0）
192.超聲波探傷中廣泛采用的是脈沖波，脈沖波是波源振動持續(xù)時(shí)間很短，間歇輻射的波（0）
193.固體介質(zhì)的彈性模量愈大，密度愈小，則縱波聲速愈大（0）
194.在相同的聲壓下，材料的聲阻抗愈大，質(zhì)點(diǎn)振動速度就愈小，因此聲阻抗表示超聲場中介質(zhì)對質(zhì)點(diǎn)振動的阻礙作用（0）
195.超聲波聲場中，聲壓與超聲波頻率成正比，聲強(qiáng)與聲壓平方成正比，與頻率平方成正比（0）
196.超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，反射波和透過波的聲能聲強(qiáng)分配比例由聲強(qiáng)反射率和聲強(qiáng)透過率來表示，它僅與界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗有關(guān)（0）
197.超聲波垂直入射到某界面，如**介質(zhì)聲阻抗遠(yuǎn)大于**介質(zhì)聲阻抗，則聲壓反射率趨于-1，透過率趨于0（0）
198.超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，聲壓往復(fù)透過率僅與界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗有關(guān)，與入射方向無關(guān)（0）
199.超聲波只有在斜射時(shí)才能在異質(zhì)界面發(fā)生波型轉(zhuǎn)換，并且至少一側(cè)為固體（0）
200.超聲波檢測中，采用橫軸表示實(shí)際聲程，縱軸表示規(guī)則反射體相對波高的坐標(biāo)曲線是描述距離、波幅、當(dāng)量大小之間關(guān)系的曲線，又稱實(shí)用AVG曲線，在調(diào)節(jié)探傷靈敏度和對缺陷定量中得到了廣泛應(yīng)用（0）
201.所謂聲強(qiáng)，就是在單位時(shí)間內(nèi)垂直通過單位面積的超聲能量，它具有功的概念（0）
202.在異質(zhì)界面上，當(dāng)超聲波縱波的折射角等于90℃時(shí)的縱波入射角稱為**臨界角（0）
203.在異質(zhì)界面上，當(dāng)超聲波橫波的折射角等于90℃時(shí)的縱波入射角稱為**臨界角（0）
204.在固-液界面上，當(dāng)超聲波縱波的折射角等于90℃時(shí)的橫波入射角稱為第三臨界角（0）
205.在工業(yè)超聲波檢測中*常用的超聲波波型有縱波,橫波,表面波,板波（0）
206.超聲波的波長由聲速與頻率求得，而聲速則由材質(zhì)和波的種類決定（0）
207.超聲波檢測中，5MHz探頭的分辨率比10MHz探頭的分辨率差（0）
208.當(dāng)超聲波聲程大于3N時(shí)，如聲程相同，若平底孔面積相差一倍，則波高相差6dB，若長橫孔直徑相差一倍時(shí)，則波高相差3dB（0）
209.在超聲波檢測中，相同的探測靈敏度下，缺陷波幅決定于缺陷的大小、取向與類型（0）
210.幻影波是由于在探測衰減小的材料，使用過高的重復(fù)頻率，在檢查大鍛件時(shí)容易出現(xiàn)的情況（0）
211.超聲波檢測奧氏體焊縫的困難是粗晶導(dǎo)致衰減大，采取改進(jìn)的方法有使用縱波探頭、窄脈沖探頭和均值法（0）
212.超聲波探頭中的吸收塊所起的作用是抑制不需要的振動和吸收雜波，常用環(huán)氧樹脂粉加鎢粉制成（0）
213.超聲波探頭中的匹配吸收塊（即阻尼塊），其作用是阻尼晶片的振動使脈沖便窄，限制從晶片背面發(fā)射的聲波，以防止出現(xiàn)雜波。探頭若不加阻尼塊，始脈沖應(yīng)會變寬，盲區(qū)變大，分辯力降低（0）
214.用雙晶直探頭對平面工件探傷時(shí)，*好的操作方法是使隔聲層垂直于探頭掃查方向（0）
215.超聲波檢測用的探頭中，置于壓電晶片背面的阻尼塊有三個(gè)基本作用，**是用于固定晶片位置，**是用于吸收晶片背面的超聲波，第三是用于減少晶片持續(xù)振動時(shí)間，從而使得脈沖寬度變窄（0）
216.在利用實(shí)心軸上圓柱面底波按AVG方法校正探傷靈敏度時(shí)，軸的直徑應(yīng)不小于3.7N，通?？赏ㄟ^減小探頭尺寸使之實(shí)現(xiàn)（0）
217.焊縫的超聲波檢測一般應(yīng)在外觀檢查合格之后進(jìn)行，電渣焊的焊縫應(yīng)在正火處理之后進(jìn)行，容易產(chǎn)生延遲裂紋的焊縫應(yīng)在至少焊后24小時(shí)之后進(jìn)行。（0）
218.在焊縫的超聲波檢測中，一般都盡可能避免使用折射角為60°的斜探頭，因?yàn)槭褂眠@種探頭在遇到垂直于底面的缺陷時(shí)，其回波聲壓甚低（0）
219.提高近表面缺陷的探測能力應(yīng)從下面三方面著手：①用TR探頭；②使用窄脈沖寬頻帶探頭；③提高探頭頻率，減小晶片尺寸（0）
220.來自缺陷本身而影響缺陷回波高度的因素包括：①缺陷大??；②缺陷位置；③缺陷形狀；④缺陷取向；⑤缺陷性質(zhì)；⑥缺陷表面光滑度（平整度）等（0）
221.在探測工件側(cè)壁附近的缺陷時(shí)，由于存在著側(cè)壁干擾，所以探傷靈敏度會明顯偏低（0）
222.在中薄板的直探頭多次反射法探傷中，由于多次反射之間的疊加作用，致使小缺陷多次反射回波高度常常是**次要比**次偏低（0）
223.在用AVG方法校正直探頭的探傷靈敏度時(shí)，被選用的底面應(yīng)滿足以下要求：①應(yīng)與探測面平行；②其表面應(yīng)平整光潔；③探頭離試件邊緣的各向尺寸應(yīng)≥4(λ·δ)1/2；④不與其他透聲物質(zhì)和吸聲物質(zhì)相接觸（0）
224.管子的超聲波檢測一般都采用水浸聚焦探傷方法，但只要探傷靈敏度能滿足要求，也可以采用斜探頭接觸法（0）
225.用直探頭從端部探測直徑為d的細(xì)棒狀工件時(shí)，在底波后面出現(xiàn)的遲到波是由于聲束射到工件側(cè)面產(chǎn)生波型變換所致，其遲到波間距對于鋼材為0.76d（0）
226.根據(jù)回波高度和聲場反射規(guī)律進(jìn)行缺陷定量時(shí)，回波高度的測量應(yīng)在儀器的抑制旋鈕關(guān)閉以及增益微調(diào)旋鈕不動的狀態(tài)下進(jìn)行（0）
227.超聲波檢測儀的動態(tài)范圍應(yīng)是回波幅度從100%下降至剛能辨認(rèn)之*小值，一般指1%時(shí)，衰減器上讀得的分貝調(diào)節(jié)量（0）
228.常用的聚焦探頭使聲束聚焦的方法有多種，例如：用帶有曲率聲透鏡的平面晶片，在晶片前面放置帶曲面的有機(jī)玻璃塊曲面，把超聲波投射到反射面上，使用兩塊以上按一定曲率半徑放置的晶片等（0）
229.鋼板的直探頭探傷中，顯示于示波屏上的缺陷回波圖形可以分為三種，它們是：底波多次反射和缺陷的多次反射波同時(shí)出現(xiàn)、只有缺陷的多次反射波出現(xiàn)、只有一些紊亂的波（0）
230.鋼板探傷的掃查方式有：**掃查、格子線掃查、列線（平行線）掃查、邊緣掃查（0）
231.當(dāng)管子的壁厚與外徑之比大于0.2時(shí)，就無法使用純橫波進(jìn)行周向探傷，一般推薦使用的探傷方法是：利用折射透入管壁的縱波射向外壁，再利用該壁反射超聲波時(shí)產(chǎn)生的橫波射向內(nèi)壁，從而實(shí)現(xiàn)檢查管子內(nèi)、外壁缺陷的目的（0）
232.ASTMA609標(biāo)準(zhǔn)適用于碳鋼和低合金鋼的鑄件超聲波檢測，標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)校正直探頭探傷靈敏度使用的試塊，規(guī)定其底部平底孔直徑應(yīng)為1/4英寸或6.35mm（0）
233.對于鋼鍛件來說，可以通過加大鍛壓比，降低終鍛溫度和采用熱處理方法細(xì)化晶粒，減少超聲波的傳輸衰減，但是細(xì)化晶粒的熱處理方法不適用于奧氏體不銹鋼（0）
234.在鍛件的超聲波檢測中有兩個(gè)選擇探測面的原則經(jīng)常被采納使用，它們是：①應(yīng)盡可能使透入鍛件的超聲波傳播方向與晶粒的變形方向相垂直；②應(yīng)從互相垂直的兩個(gè)方向上作****的掃查（0）
235.超聲波通過異質(zhì)薄層時(shí)，聲壓反射率和透過率不僅與介質(zhì)聲阻抗和薄層聲阻抗有關(guān)，而且與薄層厚度與波長之比有關(guān)。（0）
236.橫波斜入射到異質(zhì)界面，使縱波反射角為90時(shí)的橫波入射角稱為第三臨界角，它的大小只與**介質(zhì)的縱波聲速和橫波聲速有關(guān)。（0）
237.超聲波平面波入射到球界面時(shí)，凹球面上的反射波好像是從實(shí)焦點(diǎn)發(fā)出的球面波；凹球面上的反射波好像是從虛焦點(diǎn)發(fā)出的球面波。（0）
238.介質(zhì)的散射衰減與頻率、晶粒直徑和各向異性系數(shù)有關(guān)。因此探傷晶粒較粗大的工件時(shí)，常常選用較低的頻率。（0）
239.固體介質(zhì)中的脈沖波聲場的近場區(qū)，其聲壓極值點(diǎn)數(shù)量較理想聲場減少，且極大極小值幅度差異縮小。
240.斜探頭橫波聲場近場區(qū)分布在兩種介質(zhì)中，近場長度隨入射角的增大而縮短。（0）
241.B型顯示探傷儀熒光屏的橫坐標(biāo)代表探頭掃查軌跡，縱坐標(biāo)代表聲波傳播時(shí)間。（0）
242.聚焦探頭的焦點(diǎn)尺寸與晶片直徑、波長和焦距有關(guān)，晶片直徑大，波長短，焦距小，則焦點(diǎn)小。（0）
243.縱波垂直法探傷中，由于側(cè)壁干涉的結(jié)果，側(cè)面壁附近的缺陷，靠近側(cè)壁探測時(shí)回波低，遠(yuǎn)離側(cè)壁探測時(shí)回波高。（0）
244.表面波探傷時(shí)，掃描速度調(diào)節(jié)一般是按聲程調(diào)節(jié)時(shí)基線掃描比例（0）
245.利用板波對薄板探傷時(shí)，如發(fā)現(xiàn)端頭信號前面有反射信號出現(xiàn)時(shí)，應(yīng)用手拍打確定缺陷確切位置。（0）
246.用直探頭對軸類鍛件（直徑為d）作軸向探測時(shí)，有時(shí)熒光屏上會出現(xiàn)遲到波。**次遲到波位于**次底波之后約0.76d處，以后各次遲到波間距相同。（0）
247.用直探頭對軸類鍛件（直徑為d）作徑向探測時(shí)，有時(shí)會出現(xiàn)三角反射波，兩次三角反射波總是位于**次底波之后，聲程分別為1.3d和1.67d（0）
248.對厚焊縫進(jìn)行串列法探傷時(shí)，探頭的移動方式分別為橫方形和縱方形兩種串列掃查形式（0）
249.目前，板厚3~8mm薄板焊縫的超聲波探傷常采用焊縫寬度法，此法所用斜探頭的聲場應(yīng)復(fù)蓋整個(gè)焊縫截面。（0）
250.數(shù)字化超聲波探傷儀和模擬式超聲波探傷儀的根本區(qū)別在于通過模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換把探頭接收到的模擬信號轉(zhuǎn)變成數(shù)字信號從而便于利用計(jì)算機(jī)技術(shù)進(jìn)行處理(0)
二、二. 問答題
1.超聲場分為幾個(gè)區(qū)域？各個(gè)區(qū)域的主要特征是什么？用示意圖注明簡述之
[提示]超聲場是由聲源發(fā)射超聲振動的空間而形成特殊場，它可以根據(jù)超聲在空間各部位聲壓大小不同，形象地用圖示方法表示出來（如下圖a）：超聲場分為近場和遠(yuǎn)場兩大部份，其中主聲束以錐體形狀（猶如鮮花主瓣），近場區(qū)內(nèi)主聲束以外的稱為副瓣。主聲束的擴(kuò)散角按零階貝塞爾函數(shù)計(jì)算出其主瓣的錐角范圍，即J1(X)=J1(kasinθ)，J1(X)有很多根，其中*小的根為X0=3.83，則sinθ0=3.83/ka=(3.83/2π)(λ/a)=(3.83/π)(λ/2a) sinθ=1.22(λ/D)[D=2a--晶片直徑，a為半徑]，求出θ0值即為主瓣的擴(kuò)散角（θ0），當(dāng)用J2(X)、J3(X)……分別求出**副瓣、**副瓣……的擴(kuò)散角θ1、θ2……等（如下圖b），同樣由sinθ=1.22(λ/D)求出，當(dāng)S=b=1.64(D2/4λ)=1.64N時(shí)，主聲束由晶片中心擴(kuò)散到晶片邊緣的距離（也可用二項(xiàng)式展開證明）（注：也有資料以1.67N為主聲束由晶片中心擴(kuò)散到晶片邊緣的距離）
2.試比較射線探傷與超聲波探傷兩種方法的適用范圍和局限性
[提示]：應(yīng)從兩種方法的靈敏度高低、檢測厚度范圍、易發(fā)現(xiàn)的缺陷形狀以及**防護(hù)和經(jīng)濟(jì)性等方面進(jìn)行比較
3．何謂波的、干涉現(xiàn)象？什么情況下合成振幅*大？什么情況下合成振幅*小？
答：①兩列頻率相同，振動方向相同，相位相同或相位差恒定的波相遇時(shí)，由于波疊加的結(jié)果，會使某些地方的振動始終互相加強(qiáng)，而另一些地方的振動始互相減弱或完全抵消，這種現(xiàn)象稱為波的干涉，產(chǎn)生干涉現(xiàn)象的波稱為相干波。相干波現(xiàn)象的產(chǎn)生是相干波傳播到各點(diǎn)時(shí)波程不同所致。②當(dāng)波程差等于波長的整數(shù)倍時(shí)，合成振幅達(dá)*大值。③當(dāng)波程差等于半波長的奇數(shù)倍時(shí)，合成振幅達(dá)*小值。
4．何謂駐波？為什么通常取晶片厚度等于半波長？
答：①兩列振幅相同的相干波，在同一直線上相向傳播時(shí)互相疊加而成的波，稱為駐波。②當(dāng)介質(zhì)厚度等于半波長整數(shù)倍時(shí)，會產(chǎn)生駐波。所以取晶片厚度可以形成駐波，產(chǎn)生共振，使合成振幅*大，有利于提高探頭輻射超聲波的效率。
5．什么是惠更斯原理？它有什么作用？
答：惠更斯原理：介質(zhì)中波動傳播到的各點(diǎn)都可以看到是發(fā)射子波的波源，其后任意時(shí)刻這些子波的包跡就是新的波陣面。利用惠更斯原理，可以確定不同波源輻射的聲波的形狀和波的傳播方向，可以解釋聲波在均勻和非均勻介質(zhì)中傳播的許多現(xiàn)象。
6.什么叫衰減？產(chǎn)生衰減的原因是什么？
答：超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，隨著距離的增加，能量逐漸減小的現(xiàn)象叫做超聲波的衰減。超聲波衰減的原因主要有三個(gè)：① 擴(kuò)散衰減：超聲波在傳播中，由于聲束的擴(kuò)散，使能量逐漸分散，從而使單位面積內(nèi)超聲波的能量隨著傳播距離的增加而減小，導(dǎo)致聲壓和聲強(qiáng)的減小。② 散射衰減：當(dāng)聲波在傳播過程中，遇到不同聲阻抗的介質(zhì)組成的界面時(shí)，將發(fā)生散亂反射（即散射），從而損耗聲波能量，這種衰減叫散射衰減。散射主要在粗大晶粒（與波長相比）的界面上產(chǎn)生。由于晶粒排列不規(guī)則，聲波在斜傾的界面上發(fā)生反射、折射及波型轉(zhuǎn)換（統(tǒng)稱散射），導(dǎo)致聲波能量的損耗。③ 粘滯衰減：聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，由于介質(zhì)的粘滯性而造成質(zhì)點(diǎn)之間的內(nèi)壁摩擦，從而使一部分聲能變?yōu)闊崮?。同時(shí)，由于介質(zhì)的熱傳導(dǎo)，介質(zhì)的疏、密部分之間進(jìn)行的熱交換，也導(dǎo)致聲能的損耗，這就是介質(zhì)的吸收現(xiàn)象。由介質(zhì)吸收引起的衰減叫做粘滯衰減。
7.什么叫超聲波聲場？反映超聲波聲場特征的重要物理量有哪幾個(gè)？什么叫聲壓、聲強(qiáng)、聲阻抗？
答：充滿超聲波的空間，或者說傳播超聲波的空間范圍叫做超聲波聲場。聲壓、聲強(qiáng)、聲阻抗是反映超聲波聲場特征的三個(gè)重要物理量，稱為超聲波聲場的特征量。超聲波聲場中某一點(diǎn)在某一瞬間所具有的壓強(qiáng)與沒有超聲波存在時(shí)，同一點(diǎn)的靜態(tài)壓強(qiáng)之差，稱為聲壓。單位時(shí)間內(nèi)穿過和超聲波傳播方向垂直的單位面積上的能量稱為聲強(qiáng)。介質(zhì)中的任何一點(diǎn)的聲壓和該質(zhì)點(diǎn)振動速度之比稱為聲阻抗。
8.超聲波檢測利用超聲波的哪些特性？
答：①超聲波有良好的指向性，在超聲波檢測中，聲源的尺寸一般都大于波長數(shù)倍以上，聲束能集中在特定方向上，因此可按幾何光學(xué)的原理判定缺陷位置。②超聲波在異質(zhì)介面上將產(chǎn)生反射、折射、波型轉(zhuǎn)換、利用這些特性，可以獲得從缺陷等異質(zhì)界面反射回來的反射波及不同波型，從而達(dá)到探傷的目的。③超聲波檢測中，由于頻率較高，固體中質(zhì)點(diǎn)的振動是難以察覺的。因?yàn)槁晱?qiáng)與頻率的平方成正比，所以超聲波的能量比聲波的能量大得多。④超聲波在固體中容易傳播。在固體中超聲波的散射程度取決于晶粒度與波長之比，當(dāng)晶粒小于波長時(shí)，幾乎沒有散射。在固體中，超聲波傳輸損失小，探測深度大。
9.在超聲波反射法檢測中為什么要使用脈沖波？
[提示]：①可使瞬時(shí)內(nèi)發(fā)射能量很大，而總能量不大；②可做時(shí)標(biāo)用，測量超聲波在工件中的傳播時(shí)間，從而對缺陷進(jìn)行定位；③不是單色波，可克服缺陷厚度對超聲波反射率與透過率的影響；④可顯著減少入射波與反射波之間干涉區(qū)的長度；⑤從工程技術(shù)上比較容易制造出脈沖波的超聲波檢測儀
10.什么叫波的疊加原理？
答：波動的下述規(guī)律稱為疊加原理：①兩列波在傳播過程中相遇后仍然保持它們各自原有的特性（頻率、波長、振幅等）不變，按照自己原來的傳播方向繼續(xù)前進(jìn)；②在相遇區(qū)域內(nèi)，任意一點(diǎn)的振動為兩列波所引起的振動的合成
11.什么叫波的繞射現(xiàn)象？
答：波在傳播過程中遇到尺寸可以與波長向比擬的障礙物，或者一個(gè)大障礙物上尺寸可與波長比擬的小孔時(shí)，能繞過障礙物或穿過小孔繼續(xù)傳播，而不會在障礙物背面產(chǎn)生“陰影”的現(xiàn)象叫做波的繞射現(xiàn)象
12.說明超聲波聲場具體分為哪幾個(gè)區(qū)域？
答：超聲波聲場具體分為四個(gè)區(qū)域：①主聲束和副瓣--聲源正前方，聲能*集中的錐形區(qū)域即為主聲束，聲源發(fā)射的聲能主要集中在主聲束。聲束副瓣也稱副聲束，通常出現(xiàn)在鄰近探頭晶片的一個(gè)區(qū)域內(nèi)，旁側(cè)于主聲束，其軸線傾斜于晶片表面，能量微弱，截面較小，晶片尺寸和波長之比的不同，副瓣的數(shù)量和輻射方向也不相同；②近場--指主聲束中心軸線上*后一個(gè)聲壓極大值處至晶片表面這一區(qū)域，近場長度用N表示，它取決于晶片的直徑D（或面積AS）和波長λ，用公式N=(D2-λ2)/4λ≈AS/πλ表示。近場區(qū)鄰近壓電晶片，聲壓分布*不均勻，這是由于該區(qū)域內(nèi)聲波干涉現(xiàn)象*嚴(yán)重，因此近場區(qū)也稱干涉區(qū)，干涉現(xiàn)象對探傷有很大影響，探傷時(shí)要盡量避免；③遠(yuǎn)場--近場以外的區(qū)域稱為遠(yuǎn)場。遠(yuǎn)場中各子波傳播的距離已經(jīng)很遠(yuǎn)，相位幾乎相等，各量可以簡單相加，聲壓值隨距離增加而單調(diào)下降。遠(yuǎn)場區(qū)的大小由晶片尺寸、波長、介質(zhì)的聲學(xué)特性及激勵(lì)晶片的電壓決定，實(shí)質(zhì)上即與超聲波的發(fā)射功率以及傳聲介質(zhì)特性相關(guān)；④未擴(kuò)散區(qū)--主聲束橫截面與聲源直徑相同之點(diǎn)至近場與遠(yuǎn)場分界點(diǎn)的一段區(qū)域稱為未擴(kuò)散區(qū)，該點(diǎn)至晶片表面的距離約為近場區(qū)長度的1.6倍，該區(qū)域中的平均聲壓可以看作常數(shù)，從該點(diǎn)開始，主聲束擴(kuò)散，形成錐體。
13.現(xiàn)有一合金材料（CL=2.3x106mm/s，CS=1.63x106mm/s），用2.5MHz13x13 tgβ=2（β=63.4°）（有機(jī)玻璃-鋼）的斜探頭，能否實(shí)現(xiàn)在該材料中的純橫波探傷？如果不能，請說明理由并提出應(yīng)采取什么措施？
答：不能，因?yàn)椴淮嬖?*臨界角，合金材料中始終是縱、橫波同時(shí)存在，解決的辦法是使波型轉(zhuǎn)換器（有機(jī)玻璃斜楔）的聲速降到C1L＜C2L的情況，例如改用水楔，此時(shí)水-合金材料的**臨界角為40°，只要水中入射角大于40°即可。
14.試從超聲波前進(jìn)方向的角度出發(fā)，廣義地?cái)⑹龀暡ㄔ诮缑嫔系男袨椤?/span>答：廣義地說，超聲波在異質(zhì)界面上的行為有反射、折射、波型轉(zhuǎn)換或使超聲波束發(fā)生收斂、發(fā)散、繞射及散射。
15.在下圖中畫出超聲縱波從鈦合金中以45°斜入射到鋼中的反射與折射情況:
C鈦L=6150m/s C鈦S=3150m/s C鋼L=5850m/s C鋼S=3200m/s（標(biāo)準(zhǔn)圖形從略）
16.在平板對接焊縫的超聲波檢測中，為什么要用斜探頭在焊縫兩側(cè)的母材表面上進(jìn)行？
答：在焊縫母材兩側(cè)表面進(jìn)行探測便于檢出焊縫中各個(gè)方向的缺陷；便于使用一次、二次聲程掃查整個(gè)焊縫截面，不會漏檢；有些缺陷在一側(cè)面發(fā)現(xiàn)后，可在另一側(cè)面進(jìn)行驗(yàn)證；一般母材表面光潔度比焊縫高，易于探頭移動掃查，也可省去焊縫打磨的工作量
17.在棒材圓周面上進(jìn)行超聲探傷時(shí),**次底波與**次底波之間可見到有兩個(gè)遲到波,如下圖所示,請指出這兩個(gè)遲到波各是什么波型?（前面為L-L-L波,后面為L-S-L波）
18.如何提高近表面缺陷的探測能力？
[提示]：提高近表面缺陷的探測能力應(yīng)從下面三方面著手：①用TR探頭；②使用窄脈沖寬頻帶探頭；③提高探頭頻率，減小晶片尺寸
19.畫出下圖中不同情況下聲波的收斂或發(fā)散的情況:自左向右：①發(fā)散 ②收斂 ③收斂 ④發(fā)散
20.將超聲波直探頭置于IIW1試塊側(cè)面上探測100mm距離的底波,如下圖所示在**次底波與**次底波之間前兩個(gè)遲到波各是什么波型?（前面為L-L-L波,后面為L-S-L波）
21.脈沖反射探傷法對探頭晶片有什么要求？
答：①轉(zhuǎn)換效率要高，盡可能降低轉(zhuǎn)換損失，以獲得較高的靈敏度，宜選用Kt（機(jī)電耦合系數(shù)）大的晶片。②脈沖持續(xù)時(shí)間盡可能短，即在激勵(lì)晶片后能迅速回復(fù)到靜止?fàn)顟B(tài)，以獲得較高的縱向分辯力和較小的盲區(qū)。③要有好的波形，以獲得好的頻譜包跡。④聲阻抗適當(dāng)，晶片與被檢材料的聲阻抗盡量接近，水浸法探傷時(shí)，晶片應(yīng)盡量與水的聲阻抗相近，以獲得較高的靈敏度。⑤高溫探傷時(shí)，居里點(diǎn)溫度要高。⑥制造大尺寸（直徑）探頭時(shí)，應(yīng)選擇介電常數(shù)小的晶片。⑦探頭實(shí)際中心頻率與名義頻率之間誤差小，頻譜包絡(luò)**峰。
22.下圖為CSK-IA試塊示意圖，試述其主要用途
[提示]①用于超聲波檢測儀器和探頭的組合性能測試；②標(biāo)定檢測距離，測定斜探頭的前沿距離和折射角；③調(diào)節(jié)超聲波檢測儀的相對靈敏度等
23.為什么超聲波檢測儀上的衰減器精度用每12dB中的誤差表示？
答：衰減器精度一般用標(biāo)準(zhǔn)平底孔試塊進(jìn)行測試，而平底孔孔徑每增加一倍相差12dB，如Φ2mm與Φ4mm在相同聲程時(shí)其反射波高相差12dB，在制造技術(shù)上，因?yàn)樵谑静ㄆ辽戏瓷洳ǜ甙?/span>20log規(guī)律變化，即12dB=20log4，或-12dB=20log(1/4)，即波形高度按1:4或4:1之比來測量，基于這兩個(gè)原因，故測量衰減器誤差按每12dB的誤差表示，從而容易測量和容易比較（例如對于π形衰減器電路，雖然使用“12dB”沒有多少方便之處，但作為超音波檢測儀器的統(tǒng)一指標(biāo)比較還是需要的），需要指出：在新型的超音波檢測儀上對衰減器精度的衡量已采用每2dB中的誤差表示。24.下圖為超聲波水浸法縱波檢測試件內(nèi)部缺陷的示意圖,試列舉影響缺陷反射波高的諸因素（標(biāo)準(zhǔn)答案從略，考察應(yīng)試者的系統(tǒng)分析能力）
25.簡述A型超聲波檢測儀的工作過程
答：儀器的工作過程是：儀器的同步電路產(chǎn)生方波，同時(shí)觸發(fā)發(fā)射電路、掃描電路和定位電路。發(fā)射電路被觸發(fā)后，激發(fā)探頭產(chǎn)生一個(gè)衰減很快的超音脈沖，這脈沖經(jīng)耦合傳送到工件內(nèi)，遇到不同介質(zhì)的界面時(shí)，產(chǎn)生回波?；夭ǚ瓷涞教筋^后，被轉(zhuǎn)換成電信號，儀器的接收電路對這些信號進(jìn)行放大，并通過顯示電路在熒光屏上顯示出來。
26.焊縫超聲波檢測中，干擾回波產(chǎn)生的原因是什么？我們怎樣判別干擾回波？
答：焊縫超聲波檢測中，由于焊縫幾何形狀復(fù)雜，由形狀產(chǎn)生干擾回波，另一方面是由于超聲波的擴(kuò)散、波型轉(zhuǎn)換和改變傳播方向等引起干擾回波。判別干擾回波的主要方法是用計(jì)算和分析的方法尋找各種回波的發(fā)生源，從而得知哪些是由于形狀和超聲波本身的變化引起的假信號，通常用手指沾耦合劑敲打干擾回波發(fā)生源、作為驗(yàn)證焊縫形狀引起假信號的輔助手段。
27.焊縫超聲波檢測中，有哪些主要的干擾回波？
答：焊縫超聲波檢測中，主要有以下8種干擾回波：①加強(qiáng)層干擾回波。②焊縫內(nèi)部未焊透反射引起的干擾回波。③單面焊襯板引起的干擾回波。④焊縫錯(cuò)邊引起的干擾回波。⑤焊瘤引起的干擾回波。⑥焊偏引起的干擾回波。⑦焊縫表面溝槽引起的干擾回波。⑧油層引起的干擾回波。
28.在超聲波檢測中常用的缺陷指示長度測量方法各有什么優(yōu)缺點(diǎn)？
[提示]缺陷指示長度測量方法可分為相對靈敏度法和**靈敏度法：①相對靈敏度法（即6dB、10dB、20dB法），優(yōu)點(diǎn)是：耦合誤差和衰減影響小；不受回波高度影響。缺點(diǎn)是：操作者主觀因素對探傷結(jié)果影響較大；操作誤差大，測量出來的指示長度可能大于缺陷長度；不能實(shí)現(xiàn)自動化探傷。②**靈敏度法，優(yōu)點(diǎn)：主觀性要求低，容易采用機(jī)械化；可以比較容易實(shí)現(xiàn)自動化探傷。缺點(diǎn)：表面接觸誤差大；回波高度影響大。
29.試述來自缺陷本身而影響缺陷回波高度的因素有哪些？
[提示]缺陷本身影響回波高度的因素有：①缺陷大小；②缺陷位置；③缺陷形狀；④缺陷取向；⑤缺陷性質(zhì)；⑥缺陷表面光滑度（平整度）等
30.如何選擇焊縫探傷中的斜探頭折射角？
答：為使整個(gè)焊縫截面不漏檢，選用的折射角β必須滿足tgβ≥(D+L)/T，式中：D-焊縫寬度；L-探頭前沿長度；T-鋼板厚度
31.當(dāng)用前沿尺寸a=15mm的斜探頭檢查一條板厚T=18mm的平板對接焊縫時(shí)，在某個(gè)局部長度范圍內(nèi)遇到了焊寬D1=32mm，D2=28mm，余高δ1=8mm，δ2=8mm的情況（由補(bǔ)焊造成），將會發(fā)生什么問題？為了選擇合適的折射角，應(yīng)采取哪些措施？請說明理由。
答：因?yàn)檠a(bǔ)焊，使D1=32mm，D2=28mm，焊縫加寬（加強(qiáng)層變大，δ=8mm），故為了不漏檢必須增大探頭折射角β，有兩個(gè)措施：①換用折射角β大些的探頭，這里用tgβ=2.5較適宜；或者②將原探頭后部磨去一部分使折射角增大來解決這一問題
32．何謂三角反射波？它有什么特征？
答：用縱波直探頭徑向探測實(shí)心圓柱體鍛件或棒材時(shí)，由于探頭平面與柱面接觸面小，聲束擴(kuò)散角增大，擴(kuò)散聲束可能會在圓柱面上形成三角反射路徑，從而在熒光屏上特定位置出現(xiàn)反射波，這種波即稱為三角反射波。三角反射波一般有二次，均出現(xiàn)在**次底波B1之后，且位置是固定的，一次是縱波擴(kuò)散聲束在圓柱面上不發(fā)生波形轉(zhuǎn)換，形成等邊三角形反射，如圓柱體直徑為d，則這一反射波聲程為1.3d；另一次是縱波擴(kuò)散聲束在一柱體面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換，形成等腰三角形反射，其聲程為1.67d
33.采用斜探頭對對接焊縫進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，平面型缺陷與非平面型缺陷的判別方法如何？（答案從略）
34.為什么反射法探傷采用脈沖超聲波？（答案從略）
35.影響外曲率補(bǔ)償系數(shù)的因素有哪些？除提高增益外還有哪些補(bǔ)償辦法？（答案從略）
36.用能量守恒或力的平衡觀點(diǎn)證明：在異質(zhì)界面上，聲壓透過率Tp等于1+Rp（聲壓反射率）是正確的 （答案從略）
37.請對GB/T3323-2005和JB/T4730.3-2005這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)任選一個(gè)談?wù)剬ζ鋬?yōu)缺點(diǎn)及改進(jìn)意見的看法（答案從略）
38.為什么對接焊縫的超聲波探傷一般都是在焊縫兩側(cè)的母材上用斜探頭進(jìn)行？
[提示]：①在焊縫母材兩側(cè)表面進(jìn)行探測便于檢出焊縫中各個(gè)方向的缺陷；②便于使用一次、二次聲程掃查整個(gè)焊縫截面，不會漏檢；③有些缺陷在一側(cè)面發(fā)現(xiàn)后，可在另一側(cè)面進(jìn)行驗(yàn)證；④一般母材表面光潔度比焊縫高，易于探頭移動掃查，也可省去焊縫打磨的工作量，故此，焊縫探傷都用斜探頭在焊縫兩側(cè)的母材上表面進(jìn)行
39.在什么情況下容易出現(xiàn)幻覺波（即殘響效應(yīng)）？如何加以識別？（答案從略）
40.試述脈沖反射式超聲波探傷中影響缺陷回波高度的各種因素 （答案從略）
41.采取什么措施可以提高近表面缺陷的檢測能力？
[提示]：提高近表面缺陷的探測能力應(yīng)從下面三方面著手：①用TR探頭；②使用窄脈沖寬頻帶探頭；③提高探頭頻率，減小晶片尺寸
42.試述相對靈敏度測長法及**靈敏度測長法的優(yōu)缺點(diǎn)
[提示]缺陷指示長度測量方法可分為相對靈敏度法和**靈敏度法：①相對靈敏度法（即6dB、10dB、20dB法），優(yōu)點(diǎn)是：耦合誤差和衰減影響?。徊皇芑夭ǜ叨扔绊?。缺點(diǎn)是：操作者主觀因素對探傷結(jié)果影響較大；操作誤差大，測量出來的指示長度可能大于缺陷長度；不能實(shí)現(xiàn)自動化探傷。②**靈敏度法，優(yōu)點(diǎn)：主觀性要求低，容易采用機(jī)械化；可以比較容易實(shí)現(xiàn)自動化探傷。缺點(diǎn)：表面接觸誤差大；回波高度影響大。
43.對焊縫而言，采用射線照相法與超聲波檢驗(yàn)法各有什么優(yōu)缺點(diǎn)？（答案從略）
44.為什么在超聲儀器性能評定中通常只要求測量電噪聲電平，而不要求對電和聲共同引起的噪聲電平進(jìn)行測量？
答：因?yàn)樵诔曁絺?，聲噪聲要在超聲波的傳播過程中才能產(chǎn)生，若用試塊代替?zhèn)鞑ソ橘|(zhì)，由于目前還沒有建立測量試塊中聲噪聲的理想方法，因此采用不同的試塊，可能會得到不同的測量結(jié)果，失去測量意義
