中 華 人 民 共 和 國 航 空 工 業(yè) 部 部 標(biāo) 準(zhǔn)
HB 5358.2--86
航空制件Ｘ射線照相檢驗質(zhì)量控制標(biāo)準(zhǔn)
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1引言
1.1 適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)適用于航空材料和零部件Ｘ射線照相檢驗的質(zhì)量控制。
1.2 內(nèi)容
本標(biāo)準(zhǔn)對Ｘ射線照相檢驗中影響結(jié)果可靠性的主要因素規(guī)定了質(zhì)量控制的要求。其內(nèi)容包括環(huán)境條件、設(shè)備和儀器、檢驗用材料和象質(zhì)計、工藝要求、技術(shù)文件及對人員的要求。
2環(huán)境條件
2.1 Ｘ射線機房
2.1.1 機房應(yīng)滿足GB4792-84《放射衛(wèi)生防護基本標(biāo)準(zhǔn)》中有關(guān)防護方面的要求。其有效面積一般不得小于35平方米，對于小型設(shè)備可酌情減小,但應(yīng)有足夠的活動余地。透照場地應(yīng)鋪設(shè)厚度不小于3mm的鉛板。
2.1.2 機房內(nèi)不準(zhǔn)堆放與檢驗無關(guān)的雜物。
2.1.3 應(yīng)安裝換風(fēng)量不低于10次/h的通風(fēng)設(shè)備。溫度與濕度應(yīng)控制在機器說明書所要求的范圍內(nèi)。
2.1.4 房內(nèi)光照要柔和，透照場附近的照度不低于300 Lx。
2.2 暗室
2.2.1 暗室應(yīng)由相互分開的“處理間”和“備片間”（兼作膠片貯存間）兩部分組成。兩室內(nèi)均應(yīng)有送風(fēng)和排風(fēng)設(shè)備，在送風(fēng)裝置進氣口應(yīng)安裝靜電除塵器，以保證室內(nèi)清潔無塵。同時，還應(yīng)安裝空調(diào)設(shè)備，使室溫保持在20±5℃。
2.2.2 “備片室”內(nèi)濕度應(yīng)控制在60%以下，以避免膠片受潮、發(fā)霉和變粘。工作臺要保持清潔有序。
2.2.3 “處理間”應(yīng)鋪設(shè)水磨石或瓷磚地面。水槽要用瓷磚貼襯。墻壁應(yīng)涂油漆。
2.3 評片室
2.3.1 每個射線照相檢驗部門應(yīng)設(shè)專用評片室。室內(nèi)光線要柔和，評片人員所在處的光照度以25Lx為宜。在此條件下，既可作記錄、對底片進行分類及書寫檢驗報告，又不使底片表面產(chǎn)生影響觀察的反射光。
2.3.2 室內(nèi)溫度應(yīng)控制在20±5℃，濕度不得高于75%，以避免底片在高溫下受潮發(fā)粘。為此應(yīng)安裝空調(diào)設(shè)備。
2.3.3 室內(nèi)應(yīng)保持安靜、無外來干擾，以保證評片人員精力集中。
2.4 底片干燥室或干燥柜
采用手工處理的部門，應(yīng)設(shè)專用底片干燥室或干燥柜。為確保干燥室內(nèi)有良好的通風(fēng)和無灰塵，應(yīng)安裝送風(fēng)和排風(fēng)裝置，送風(fēng)裝置進氣口要配有靜電除塵器。
2.5 底片貯存庫
底片應(yīng)貯存在通風(fēng)良好、陰涼干燥的專用庫房內(nèi)。
3設(shè)備和儀器
3.1 Ｘ射線機
3.1.1 應(yīng)根據(jù)待檢材料和*大可能待檢厚度及檢驗的質(zhì)量要求選取適宜的Ｘ射線機。
3.1.2 當(dāng)電源電壓波動影響射線機正常工作時，應(yīng)裝穩(wěn)壓電源。
3.1.3 Ｘ射線機電壓表、電流表應(yīng)定期進行校驗，校驗結(jié)果記入設(shè)備使用情況記錄本內(nèi)。
3.2 評片設(shè)備
3.2.1 觀片燈
評片室應(yīng)配備適當(dāng)數(shù)量的觀片燈。穿過被評底片的亮度至少為30cd/平方米，*好能達到100cd/平方米。為了觀察不同密度的底片，觀片燈的亮度應(yīng)滿足下列*低要求：
密度為1.00時，亮度至少為300cd/平方米
密度為2.00時，亮度至少為3000cd/平方米
密度為3.00時，亮度至少為30000cd/平方米
密度為4.00時，亮度至少為300000cd/平方米
觀片燈的觀察面的亮度應(yīng)均勻。強光觀片燈的亮度及觀察面積均應(yīng)可調(diào)，并應(yīng)具有良好的散熱條件，使底片與其接觸10min不致?lián)p壞。
3.2.2 密度計
3.2.2.1 每 個射線檢驗站應(yīng)配備一臺準(zhǔn)確度為±0.05、*大可測密度為4.00的密度計，用于日常生產(chǎn)檢驗，稱作“工作密度計”。必要時，工廠的射線檢驗技術(shù)指導(dǎo)部門配備一臺準(zhǔn)確度為±0.02、*大可測密度不低于4.00的密度計，用于對“工作密度計”進行檢驗，稱作“校驗密度計”。兩種密度計均應(yīng)附有相應(yīng)等級的標(biāo)準(zhǔn)密度片。
3.2.2.2 校驗用密度片每年送有關(guān)部門校驗一次。“工作密度計”每半年用“校驗密度計”校驗一次。并將校驗結(jié)果記入專用校驗卡內(nèi)。
3.2.3 放大鏡
評片時可使用3-7倍放大鏡。
3.3 劑量儀
射線檢驗技術(shù)指導(dǎo)部門應(yīng)配備輻射劑量儀器。工作場所應(yīng)配備輻射劑量報警器。上述儀器每年校驗一次，并將結(jié)果記錄在專用記錄本內(nèi)。
3.4 暗室設(shè)備
3.4.1 暗室中的**紅燈應(yīng)采用**電壓和膠片生產(chǎn)廠推薦的**燈片。亮度要適當(dāng)。其檢查方法按HB/Z60-81《Ｘ射線檢驗說明書》第7.1.3條進行。其增加之凈灰霧不得高于0.05。
3.4.2 定時裝置
采用手工處理的暗室應(yīng)配備定時鐘或其它定時裝置，以便準(zhǔn)確地控制顯、定影時間。
4檢驗用材料及像質(zhì)計
4.1 膠片
4.1.1 根據(jù)檢驗對象及檢驗質(zhì)量要求，參照下表選取適宜的膠片。
膠片選擇參考表
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│ 性 能 │
質(zhì)量等級 ├───┬───┬──┤ 適 用 范 圍
│感光度│對比度│粒度│
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特級 │ *低 │ 很高 │很細│電子元件,低千伏時薄截面輕金屬,塑料薄壁管
│ │ │ │及其它低吸收材料.
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1 │ 低 │ 很高 │ 細 │中等千伏時薄至中厚的輕金屬,較高千伏時較
│ │ │ │厚的輕金屬和薄的重金屬.
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│ │ │ │中等厚度的輕金屬,中至大厚度的重金屬.特別
2 │ 中 │ 高 │ 中 │適用于γ射線、超高電壓和電子加速器的射線
│ │ │ │檢驗.
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3 │ 快 │ 中 │ 粗 │采用γ射線和電子加速器對大厚度重金屬及其
│ │ │ │它材料的鑄件和焊接件的射線檢驗.
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4.1.2 膠片入廠后首先必須進行如下試驗：
a. 底灰霧測量。其實測值不得高于膠片出廠標(biāo)準(zhǔn)。
b. 質(zhì)量抽檢。對于每個批號，至少應(yīng)從任意兩盒中各抽出一張膠片進行試透照。檢查是否有氣泡、白花、劃傷、靜電感光、發(fā)霉及涂布不均勻等缺陷。
通過上述檢驗，證明不影響檢驗質(zhì)量時，方可投入生產(chǎn)使用。
C. 必要時可進行膠片感光特性測量。其方法可參照有關(guān)測量工業(yè)Ｘ射線膠片感光特性的專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。測得的感光度、平均梯度應(yīng)與所測膠片的出廠指標(biāo)相符。
4.1.3 用于檢驗鋁、鎂合金鑄件、非金屬材料等的膠片底灰霧不得高于0.2，對于其它材料不得高于0.3。因此，膠片投入使用之前必須事先測定其底灰霧。對于已開封的剩余膠片，每周需抽查一次底灰霧。
4.1.4 貯存中的膠片應(yīng)避免光照、受壓、過熱、潮濕及一切有害氣體，并遠離輻射源。貯存室內(nèi)溫度應(yīng)不高于25℃，相對濕度在50%-60%范圍內(nèi)。
4.1.5 應(yīng)在符合3.4.1條要求的**紅燈下開封、包裝及進行暗室處理。
4.2 增感屏
4.2.1 檢查重金屬及厚大輕金屬鑄件、焊接件時，應(yīng)采用鉛箔屏（當(dāng)管電壓低于80kv時，可以不用）。鉛箔屏厚度的選擇應(yīng)符合航標(biāo)HB/Z 60-81的有關(guān)規(guī)定。
4.2.2 嚴(yán)禁使用破損、劃傷、皺折、油污不潔的鉛箔屏。使用時要保證與膠片緊貼。
4.2.3 當(dāng)要求靈敏度等于或優(yōu)于2%時，不宜使用熒光增感屏。
4.3 像質(zhì)計（透度計）
應(yīng)采用按GB5618-85中Ｒ'10系列或航標(biāo)HB/Z60-81制造并經(jīng)有關(guān)歸口單位鑒定合格的像質(zhì)計。根據(jù)訂貨方要求或經(jīng)訂貨方同意也可使用其它形式的像質(zhì)計。
4.4 處理溶液
暗室處理用的顯影液、停影液和定影液*好按膠片生產(chǎn)廠推薦的配方配制。其化學(xué)藥品的純度不應(yīng)低于化學(xué)純。
5工藝要求
5.1 曝光曲線
對每臺使用中的Ｘ射線機應(yīng)事先按HB/Z 60-81 4.4條繪制出各種待檢材料的曝光曲線。
5.2 零件準(zhǔn)備
送檢零件應(yīng)符合HB/Z60-81 3.2、3.3和3.4條的規(guī)定。
5.3 識別號
應(yīng)根據(jù)被透照零件的射線檢驗圖表的規(guī)定放置鉛制標(biāo)識號，以便識別零件種類、零件號、透照部位等。且上述符號的影像必須出現(xiàn)在底片的相應(yīng)位置上。
5.4 像質(zhì)計的使用
5.4.1 對于大型零件，每透照一處部位均應(yīng)放置像質(zhì)計。而對于每一次可透照多個的小型零件，可僅在其中一個零件上放置。
在通常情況下，應(yīng)將像質(zhì)計放在射線管陰極一側(cè)靠近邊緣的零件表面上。絲型像質(zhì)計的*細絲居于外側(cè)。而采用階梯孔型像質(zhì)計應(yīng)盡可能與射線束垂直放置。
當(dāng)無法將像質(zhì)計置于零件上表面時，可放在一塊與受檢材料及厚度均相同的試塊上。試塊的平面尺寸不得小于100mm x100mm。
5.4.2 對于焊接件，絲型像質(zhì)計應(yīng)成直角橫跨在受檢焊縫上。而階梯孔型像質(zhì)計應(yīng)與焊縫平行置于母體金屬上，與焊縫的間距約5mm。當(dāng)焊縫余高超出母體金屬厚度的10%時，應(yīng)在像質(zhì)計下放置補償片。像質(zhì)計的具體擺放位置應(yīng)根據(jù)焊縫形式及透照方法而定。
a. 采用單壁透照（即射線源在外，膠片在內(nèi)）時，像質(zhì)計應(yīng)置于焊縫受檢區(qū)的端部。
b. 對于直徑小于90mm的環(huán)形焊縫采用雙壁雙重投影法時，其位置應(yīng)為受檢區(qū)影像承受*大幾何畸變和放大的部位。
C. 對于標(biāo)稱直徑等于或大于90mm的環(huán)形焊縫采用雙壁單投影法只檢查膠片一側(cè)的下部焊縫時，如像質(zhì)計可放入內(nèi)部時，則應(yīng)放于受檢部位的內(nèi)表面上；如無法放入時，則可按下述兩種方法的一種加以處理：
⑴ 將像質(zhì)計放置在厚度等于下壁的試塊上，并將另一塊厚度等于上壁的試塊置于像質(zhì)計上面；
⑵ 將像質(zhì)計放置在朝向膠片一側(cè)的工件表面上，但必須通過對比試驗，確定其與正常放置時的對應(yīng)關(guān)系。
d. 當(dāng)將射線源置于環(huán)形焊縫中心而進行360°全景曝光時，在其內(nèi)壁應(yīng)每隔90°放置一只像質(zhì)計。
5.4.3 當(dāng)受檢區(qū)底片的密度變化超過像質(zhì)計所在處密度的+30%或-15%時，應(yīng)適當(dāng)增加像質(zhì)計的數(shù)量，以指明受檢區(qū)整個厚度范圍的靈敏度等級。
5.5 底片密度
底片*佳密度值為2.00。*低值不得低于1.50，*高值不得高于4.00。
5.6 屏蔽與補償及濾波板的使用
對于形狀復(fù)雜、截面變化較大的零件，應(yīng)采取適當(dāng)?shù)钠帘未胧┗蜓a償方法及濾波板，以消除散射線的有害影響，提高底片的影像質(zhì)量。
5.7 暗室處理
5.7.1 暗室處理應(yīng)按HB/Z60-81 7.2條的有關(guān)要求執(zhí)行。
5.7.2 采用手工處理的暗室應(yīng)備有“溶液使用登記薄”，其中記錄下述項目:
a. 溶液配制量
b. 配制日期
C. 有效日期
d. 應(yīng)處理膠片量
e. 已處理膠片量
當(dāng)已處理膠片量達到應(yīng)處理膠片量或已達到有效期時，一般應(yīng)更新。如欲繼續(xù)使用，必須按5.7.3條進行溶液有效性試驗。
5.7.3 溶液有效試驗
將工藝檢驗用標(biāo)準(zhǔn)試塊（或階梯試塊）按標(biāo)準(zhǔn)曝光條件透照后，在待測溶液中按標(biāo)準(zhǔn)程序進行暗室處理。然后將其密度值與該試塊的基準(zhǔn)底片的密度值進行對比，如密度值變化超過±15%，則待測溶液不準(zhǔn)再用。
5.8 靈敏度
5.8.1 采用絲型像質(zhì)計時，鋁及其合金和鋼件的射線照相的影像質(zhì)量應(yīng)等于或優(yōu)于2%，但截面厚度小于5mm時，應(yīng)能發(fā)現(xiàn)0.10mm的金屬絲。
5.8.2 當(dāng)檢驗鎂及其合金而使用鋁絲像質(zhì)計時，其靈敏度應(yīng)符合HB/Z 60-81中表5的要求。
5.8.3 當(dāng)檢驗鈷基、鎳基高溫合金而使用鋼絲像質(zhì)計時，其靈敏度應(yīng)符合HB/Z 60-81中表5的要求。
5.9 工藝檢驗
5.9.1 為了評價整個工藝過程，每個射線檢驗部門必須制備一塊標(biāo)準(zhǔn)試塊（或階梯試塊），用標(biāo)準(zhǔn)條件透照后，經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)手工或自動處理程序處理，所得到的底片則作為“基準(zhǔn)底片”。
5.9.2 采用自動處理機的檢驗部門，每天在正式檢驗之前，對標(biāo)準(zhǔn)試塊用標(biāo)準(zhǔn)條件透照后進行自動處理，然后將其底片與基準(zhǔn)底片進行對比。如果密度值變化超過±15%，應(yīng)停止生產(chǎn)檢驗，并對檢驗的各個環(huán)節(jié)進行檢查，待排除故障后，方可重新進行生產(chǎn)檢驗。對于采用手工處理的檢驗部門，每周至少進行一次工藝檢驗。
5.10 底片的評定與報告
5.10.1 暗場適應(yīng)時間
從明亮的陽光下進入評片室，至少需要10min的適應(yīng)時間；而從一般光線的房間進入評片室，則需30s。在評定下一張底片前，仍需至少30s的適應(yīng)時間。
5.10.2 評定與報告
應(yīng)由Ⅱ級或Ⅲ級射線檢驗人員對底片進行評定，并簽發(fā)檢驗結(jié)果報告。
5.11 檢驗后零件的處理
5.11.1 檢驗合格的零件，應(yīng)在指定部位打上合格印記。對于不允許打印記的零件可采用其它的表示方法，如涂彩色漆等。
5.11.2 對于不合格的零件，應(yīng)發(fā)出報告。對于允許補救的零件，要在該零件上標(biāo)出缺陷的大小和準(zhǔn)確位置。
6技術(shù)文件
6.1 Ｘ射線檢驗圖表
6.1.1 對于每一種新的零件，首先應(yīng)參照相應(yīng)材料的曝光曲線選取*佳曝光條件，使底片的密度值符合本標(biāo)準(zhǔn)5.5條的要求。而靈敏度則應(yīng)滿足本標(biāo)準(zhǔn)5.8條的規(guī)定。并附有一套包括零件種類、零件號、透照部位序號等在內(nèi)的標(biāo)識號。*后將該套底片作為原始件存檔備查。
6.1.2 圖表格式可參考表1。也可根據(jù)產(chǎn)品特點自行設(shè)計，但其內(nèi)容至少應(yīng)包括表1所列的項目。
6.1.3 圖表需經(jīng)本專業(yè)Ⅲ級人員或工程師審校，經(jīng)有關(guān)部門批準(zhǔn)后生效。
6.2 檢驗記錄（包括底片）
6.2.1 檢驗記錄的格式可自行設(shè)計，但至少應(yīng)包括下述內(nèi)容：
a. 零件名稱、圖號、零件號
b. 底片數(shù)量及其編號
C. 底片密度、靈敏度
d. 合格/報廢
e. 判廢依據(jù)
f. 底片收藏號
g. 檢驗者、評片者、審核者
h. 其它認(rèn)為必要的項目
6.2.2 檢驗記錄和底片應(yīng)編號保存，以便隨時提供檢查。保存期限按有關(guān)單位的要求規(guī)定。
6.3 校驗記錄
本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的有關(guān)設(shè)備儀器、檢驗用材料的校驗記錄均應(yīng)編號保存，以便隨時提供檢查。保存期限按有關(guān)單位的要求規(guī)定。
7.人員
7.1 從事射線檢驗的人員必須根據(jù)HB 5357-86《航空無損檢測人員的資格鑒定》取得技術(shù)資格證書。
7.2 各級人員只能從事與自己技術(shù)等級相應(yīng)的技術(shù)工作。
表1 Ｘ射線照相檢驗圖表
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┃零件名稱│ │零件編號│ │ 材料牌號 │ ┃
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┃零件分類│ │驗收標(biāo)準(zhǔn)│ │X射線機型號│ ┃
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┃示意圖或照片 ┃
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┃部位│焦距│入射角│濾波板│膠片│膠片尺寸│增感屏│管電壓│管電流│時間┃
┃序號│m │ │類 型│型號 │ cm │類 型│ kＶ │mＡ│min┃
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┃ │ │ │ │ │ │ │ │ │ ┃
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┃ │ │ │ │ │ │ │ │ │ ┃
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┃ │ │ │ │ │ │ │ │ │ ┃
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┃制表者 │ │審校者│ │批準(zhǔn)者│ │日期│ ┃
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附加說明:
本標(biāo)準(zhǔn)由六二一所提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)由六二一所、一七二廠、一一二廠、四一０廠、四三０廠、一三二廠、
五七０三廠起草。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人六二一所趙起良。
航空工業(yè)部1987-03-01發(fā)布 1987-05-01實施
